一种微腔光芯片的全自动参数测量系统及方法技术方案

技术编号:46363429 阅读:4 留言:0更新日期:2025-09-15 12:40
本发明专利技术提供了一种微腔光芯片的全自动参数测量系统及方法,该系统通过集成DFB可调谐激光器光源、隔离器、EDFA放大器、ASE滤波器、基频光带阻滤波器、可选装分束器、VOA、PD及主控模块等组件,实现了对微腔光芯片特征参数的自动化测量。系统通过特定接口与待测芯片连接,能够自动获取各温度下的微腔光芯片中心波长变化曲线、传输谱特征余晖图及预期孤子态强度范围。本发明专利技术旨在自动化测试微腔光芯片特征参数,从而辅助减少采用芯片调谐光频梳产生的时间,同时给出预期孤子态强度范围以减少过度调谐问题,以简化芯片应用中所需前置测试流程,对集成光频梳的调试产生带来极大的便利。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种微腔光芯片的全自动参数测量系统及方法,属于激光测量。


技术介绍

1、随着微纳光子学的飞速发展,片上光学器件作为光学与微纳加工技术结合的产物,已经为人类社会带来了诸多变革与创新。而基于微腔光芯片所产生的集成光频梳也迅速成为新兴的研究领域,其在光纤通信领域发挥着重要作用,同时还在时频传递等其他应用中扮演重要角色。

2、微腔光芯片是指在微小的空间内构建的光学谐振腔。微腔光芯片具有小型化、低功耗等优势,有利于实现大规模光电集成。在光频梳的推动下,微腔光芯片的应用范围正在不断拓展。一方面,光学微腔芯片产生的高质量的光频梳,这些光频梳可以作为高速光互联中的光源,实现高速、低损耗的数据传输。通过优化微腔的结构和材料,可以进一步提高光频梳的性能,从而满足未来高速光互联的需求。另一方面,光学微腔芯片产生的集成光频梳作为光学频率标准,具有极高的精度和稳定性。通过光学微腔芯片产生光梳,可以实现高精度的光学频率测量和校准,为时频传递提供可靠的基础。同时,光学微腔芯片产生的某些类型的光频梳,如克尔孤子光频梳,具有ghz量级的重频,可以作为光学频率和微波本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种微腔光芯片的全自动参数测量系统,其特征在于,包括:DFB可调谐激光器光源、隔离器、EDFA放大器、ASE滤波器、基频光带阻滤波器、VOA、PD、主控模块、串口通信模块和接口模块;

2.根据权利要求1所述的一种微腔光芯片的全自动参数测量系统,其特征在于,所述接口模块包括光学输出接口、光学输入接口、电信号输出接口、电信号输入接口,用于完成测量系统与待测微腔光芯片之间的光电信号通信。

3.根据权利要求2所述的一种微腔光芯片的全自动参数测量系统,其特征在于,所述光学输出接口采用单波长保偏输出光学接头,用于将由DFB可调谐激光器发出、经过隔离器、放大器放大、且经过A...

【技术特征摘要】

1.一种微腔光芯片的全自动参数测量系统,其特征在于,包括:dfb可调谐激光器光源、隔离器、edfa放大器、ase滤波器、基频光带阻滤波器、voa、pd、主控模块、串口通信模块和接口模块;

2.根据权利要求1所述的一种微腔光芯片的全自动参数测量系统,其特征在于,所述接口模块包括光学输出接口、光学输入接口、电信号输出接口、电信号输入接口,用于完成测量系统与待测微腔光芯片之间的光电信号通信。

3.根据权利要求2所述的一种微腔光芯片的全自动参数测量系统,其特征在于,所述光学输出接口采用单波长保偏输出光学接头,用于将由dfb可调谐激光器发出、经过隔离器、放大器放大、且经过ase滤波器滤除杂波影响的单频激光输出至待测微腔光芯片。

4.根据权利要求2所述的一种微腔光芯片的全自动参数测量系统,其特征在于,所述光学输入接口采用宽谱保偏输入光学接头,用于接收来自待测微腔光芯片的回传光信号。

5.根据权利要求2所述的一种微腔光芯片的全自动参数测量系统,其特征在于,所述电信号输出接口采用tec控温信号输出电接口,用于向待测微腔光芯片提供温度控制信号。

6.根据权利要求2所述的一种微腔光芯片的全自动参数测量系统,其特征在于,所述电信号输入接口采用热敏电阻信号输入电接口,用于接收来自待测微腔光芯片的温度反馈信号。

7.根据权利要求1-6任一所述的一种微腔光芯片的全自动参数测量系统,其特征在于,所述接口模块还包括安装在测量系统外部壳体上的供电接口、供电开关、测量开关、供电指示灯及测量指示灯;供电接口用于提供整机电源,供电开关用于控制系统内各模块顺序...

【专利技术属性】
技术研发人员:易睿智肖林杨宏志赵苏怡张晓萌陈思飞黄伟张子越付中原谢阳
申请(专利权)人:中国航天科技创新研究院
类型:发明
国别省市:

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