光子装置结构及光子半导体装置制造方法及图纸

技术编号:46356273 阅读:5 留言:0更新日期:2025-09-15 12:36
一种光子装置结构及光子半导体装置,光子装置结构包括具有第一顶侧氧化物层的基板及位于第一顶侧氧化物层上的硅层。光子装置结构还包括位于硅层中的多个肋状波导组件。肋状波导组件的第一肋状波导组件包括具有第一接触孔深度的第一接触孔,且肋状波导组件的第二肋状波导组件包括具有第二接触孔深度的第二接触孔,使得第一接触孔与第二接触孔的深度不同。

【技术实现步骤摘要】

本揭露的一些实施例关于一种光子装置结构及一种光子半导体装置。


技术介绍

1、随着集成电路(integrated circuit,ic)变得越来越小且越来越快,各种类型ic中使用的电信号亦受到由ic中的电容、电感或电阻引起的越来越大的延迟的影响。在特定的高速度及/或频率下,这样的延迟成为设计问题。为了避免潜在的信号延迟问题,在某些情况下使用光信号代替电信号进行资料传输。


技术实现思路

1、根据一些实施例,提供一种光子装置结构。光子装置结构包括基板及硅层。基板包括位于基板上的氧化物层,且硅层位于氧化物层上。光子装置结构还包括位于硅层中的多个波导组件。波导组件的第一波导组件具有至少一个第一接触孔,第一接触孔具有第一接触孔深度,且波导组件的第二波导组件具有第二接触孔深度,其中第一接触孔深度与第二接触孔深度不同。

2、根据一些实施例,提供一种光子半导体装置。光子半导体装置包括基板及位于基板上的氧化物层。光子半导体装置还包括位于氧化物层上的硅层。光子半导体装置的硅层包括条状波导组件、肋状至条状波导组件及多个肋本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种光子装置结构,其特征在于,包含:

2.如权利要求1所述的光子装置结构,其特征在于,还包含:

3.如权利要求2所述的光子装置结构,其特征在于,其中该第一接触蚀刻停止层的一深度为该第一接触孔深度的5%或更大。

4.如权利要求2所述的光子装置结构,其特征在于,其中该第二接触蚀刻停止层的一深度为该第二接触孔深度的5%或更大。

5.一种光子半导体装置,其特征在于,包含:

6.如权利要求5所述的光子半导体装置,其特征在于,还包含:

7.如权利要求5所述的光子半导体装置,其特征在于,其中所述多个肋状波导组件还包含:

...

【技术特征摘要】

1.一种光子装置结构,其特征在于,包含:

2.如权利要求1所述的光子装置结构,其特征在于,还包含:

3.如权利要求2所述的光子装置结构,其特征在于,其中该第一接触蚀刻停止层的一深度为该第一接触孔深度的5%或更大。

4.如权利要求2所述的光子装置结构,其特征在于,其中该第二接触蚀刻停止层的一深度为该第二接触孔深度的5%或更大。

5.一种光子半导体装置,其特征在于,包含:

6.如权利要求5所述的光子半...

【专利技术属性】
技术研发人员:廖诗瑀刘陶承
申请(专利权)人:台湾积体电路制造股份有限公司
类型:新型
国别省市:

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