【技术实现步骤摘要】
本技术涉及电性能测试,具体而言,涉及一种射频模块批量测试治具。
技术介绍
1、随着电子市场的智能化、多样化、快速化的发展,以及满足不同客户不同应用场景的需求,不同封装设计的射频模块产品也应运而生。由于产品多样性,复杂性,集成度更高,性能要求越来越超前,其各射频模块厂家在产品出厂前必须要做老化测试,老化已经成为一道重要的工序。
2、目前市场上出现的一些射频模块,常用的老化方案是采用探针式下压结构来使探针接触到射频模块的引脚,进行产品通电。该方案具有容易使射频模块引脚受损、外观划伤、接触不良、影响老化等缺点;另一种老化方案是通过定制专用类似ic座子,单个射频模块匹配一个专用座子,进行老化测试,但是这种定制的专用座具有成本高、效率低等缺点。
技术实现思路
1、本技术的目的在于提供一种射频模块批量测试治具,以解决现有老化方案成本高、效率低以及容易使射频模块引脚受损、外观划伤、接触不良、影响老化的问题。
2、本技术的实施例通过以下技术方案实现:一种射频模块批量测试治具,包括p
...【技术保护点】
1.一种射频模块批量测试治具,其特征在于,包括PCB板(1)、底座(2)以及上盖(3),所述PCB板(1)设于底座(2)的第一侧,所述上盖(3)设于底座(2)的第二侧,所述底座(2)上开设有若干个用以放置射频模块(4)的限位通槽(201),所述PCB板(1)上设有若干个模块连接器(101),所述上盖(3)上开设有若干个定位通槽(301),各所述模块连接器(101)、定位通槽(301)均与限位通槽(201)一一对应设置,且所述模块连接器(101)的末端延伸至限位通槽(201)内,所述定位通槽(301)与射频模块(4)外形适配。
2.如权利要求1所述的射频模块
...【技术特征摘要】
1.一种射频模块批量测试治具,其特征在于,包括pcb板(1)、底座(2)以及上盖(3),所述pcb板(1)设于底座(2)的第一侧,所述上盖(3)设于底座(2)的第二侧,所述底座(2)上开设有若干个用以放置射频模块(4)的限位通槽(201),所述pcb板(1)上设有若干个模块连接器(101),所述上盖(3)上开设有若干个定位通槽(301),各所述模块连接器(101)、定位通槽(301)均与限位通槽(201)一一对应设置,且所述模块连接器(101)的末端延伸至限位通槽(201)内,所述定位通槽(301)与射频模块(4)外形适配。
2.如权利要求1所述的射频模块批量测试治具,其特征在于,所述上盖(3)的横截面呈u形。
3.如权利要求1所述的射频模块批量测试治具,其特征在于,所述上盖(3)的第一侧设有垫片(302)。
4.如权利要求3所述的射频模块批量测试治具,其特征...
【专利技术属性】
技术研发人员:徐海,高俊,王华,邓厚平,
申请(专利权)人:成都中创锐科信息技术有限公司,
类型:新型
国别省市:
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