一种光载微波干涉测距系统相移放大调制深度归一化方法技术方案

本发明专利技术提供了一种光载微波干涉测距系统相移放大调制深度归一化方法，涉及测距领域，包括：提取幅频特性数据与相频特性数据；在幅频特性数据分析中，根据最大最小功率比值，结合图像对比分析，得到幅频特性的振幅比；对频率进行归一化；在相频特性数据分析中，根据相频特性曲线求得局部极小值和极大值，并计算局部极小值和极大值对应的归一化后的参数；根据相移放大技术生成表格；查询表格得到相频特性的振幅比；选取最佳振幅比，得到归一化后的相频特性曲线；根据相移放大技术建立相移与测量距离变化量线性表征模型，并根据相频特性曲线的中心频率计算距离变化量。本发明专利技术的技术方案克服现有技术中调制深度未归一化无法实现精密距离测量的问题。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及测距领域，具体涉及一种光载微波干涉测距系统相移放大调制深度归一化方法。

技术介绍

1、光载微波干涉技术是一种距离测量方案，相移放大技术是一种基于光载微波干涉测量的高灵敏度相位检测方法，其核心是通过破坏性干涉处由于测量距离的变化等引起的微小相位变化进行线性放大。并且光载射频相移放大技术在放大信号相位的同时，不放大输入相位噪声，且能有效抑制激光强度噪声（如relative intensity noise，rin）和散射噪声，从而显著提升系统灵敏度。近年来，相移放大技术在精密测距以及材料折射率领域的研究呈现快速发展的趋势，其核心在于通过相位调控提升信号处理能力，为高精度距离探测等提供技术支撑。

2、图13、14所表征的示例实验，代表相同的实验条件下，不同距离测量下幅频谱，其中，原始振幅是指未设置测量距离，可以直观理解为待测距离基本为0，示例实验一到四，利用高精度位移装置设置递增的精密距离变化，例如示例实验一到四依次为：0.1、0.3、0.5 、0.6 。依据光载微波干涉测距原理，理想情况下，由于待测距离增加时，曲线对称中点，即局部极小值本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种光载微波干涉测距系统相移放大调制深度归一化方法，其特征在于，具体包括如下步骤：

2.根据权利要求1所述的一种光载微波干涉测距系统相移放大调制深度归一化方法，其特征在于，步骤S2具体包括如下步骤：

3.根据权利要求1所述的一种光载微波干涉测距系统相移放大调制深度归一化方法，其特征在于，步骤S3具体为：

4.根据权利要求1所述的一种光载微波干涉测距系统相移放大调制深度归一化方法，其特征在于，步骤S4具体为：

5.根据权利要求1所述的一种光载微波干涉测距系统相移放大调制深度归一化方法，其特征在于，步骤S7中的归一化处理公式为：

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【技术特征摘要】

1.一种光载微波干涉测距系统相移放大调制深度归一化方法，其特征在于，具体包括如下步骤：

2.根据权利要求1所述的一种光载微波干涉测距系统相移放大调制深度归一化方法，其特征在于，步骤s2具体包括如下步骤：

3.根据权利要求1所述的一种光载微波干涉测距系统相移放大调制深度归一化方法，其特征在于，步骤s3具体为：

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【专利技术属性】
技术研发人员：袁一博，刘恒瑞，杜立彬，孟祥谦，张汉文，梁光信，于新河，
申请(专利权)人：山东科技大学，
类型：发明
国别省市：

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