强光元件损伤监测方法、系统、存储介质及计算机程序产品技术方案

技术编号:46252912 阅读:4 留言:0更新日期:2025-08-29 20:01
本申请公开了一种强光元件损伤监测方法、系统、存储介质及计算机程序产品,涉及高能激光技术领域,所述方法包括:启动激光器对待监测强光元件进行辐照,并通过数据采集模块采集辐照过程中所述待监测强光元件的元件温度、光斑功率以及光斑图像;根据所述元件温度、所述光斑功率以及所述光斑图像生成光斑分析图、温度空间分布图、温度功率时间分布图;基于所述光斑分析图、所述温度空间分布图、所述温度功率时间分布图对所述待监测强光元件进行损伤监测。通过同时采集多种参数,从不同角度全面反映了强光元件在激光辐照下的状态,避免了单一参数监测可能导致的误判或漏判,从而提升了监测的全面性和准确性。

【技术实现步骤摘要】

本申请涉及高能激光,尤其涉及强光元件损伤监测方法、系统、存储介质及计算机程序产品


技术介绍

1、强光元件是高能激光系统的关键器件,由于其存在制备成本高,加工周期长,系统集成后不便于检测等问题,因此,强光元件性能的使用监测具有重要意义。而目前对于强光元件的损伤监测大多局限于单一参数,温度的检测,无法全面反映强光元件的光斑形变、功率波动等损伤特征,难以准确判断强光元件的实时状态。且仅依靠温度这一单参数难以揭示温度场、光斑形变与功率变化的协同作用规律,制约强光元件损伤机理的深入分析。

2、因此,如何提升强光元件损伤状态监测的准确性和全面性,成为本申请亟需解决的问题。

3、上述内容仅用于辅助理解本申请的技术方案,并不代表承认上述内容是现有技术。


技术实现思路

1、本申请的主要目的在于提供一种强光元件损伤监测方法、系统、存储介质及计算机程序产品,旨在提升强光元件损伤状态监测的准确性和全面性。

2、为实现上述目的,本申请提出一种强光元件损伤监测方法,应用于强光元件损伤监测系统,所述强本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种强光元件损伤监测方法,应用于强光元件损伤监测系统,其特征在于,所述强光元件损伤监测系统包括激光器、数据采集模块、数据分析模块,所述强光元件损伤监测方法包括:

2.如权利要求1所述的强光元件损伤监测方法,其特征在于,所述启动激光器对待监测强光元件进行辐照,并通过数据采集模块采集辐照过程中所述待监测强光元件的元件温度、光斑功率以及光斑图像的步骤之前还包括:

3.如权利要求1所述的强光元件损伤监测方法,其特征在于,所述数据采集模块包括红外测温仪、设置有衰减片的光斑分析仪以及接口型激光功率计,所述通过数据采集模块采集辐照过程中所述待监测强光元件的元件温度、光斑功率...

【技术特征摘要】

1.一种强光元件损伤监测方法,应用于强光元件损伤监测系统,其特征在于,所述强光元件损伤监测系统包括激光器、数据采集模块、数据分析模块,所述强光元件损伤监测方法包括:

2.如权利要求1所述的强光元件损伤监测方法,其特征在于,所述启动激光器对待监测强光元件进行辐照,并通过数据采集模块采集辐照过程中所述待监测强光元件的元件温度、光斑功率以及光斑图像的步骤之前还包括:

3.如权利要求1所述的强光元件损伤监测方法,其特征在于,所述数据采集模块包括红外测温仪、设置有衰减片的光斑分析仪以及接口型激光功率计,所述通过数据采集模块采集辐照过程中所述待监测强光元件的元件温度、光斑功率以及光斑图像的步骤包括:

4.如权利要求1所述的强光元件损伤监测方法,其特征在于,所述根据所述元件温度、所述光斑功率以及所述光斑图像生成光斑分析图、温度空间分布图、温度功率时间分布图的步骤包括:

5.如权利要求1所述的强光元件损伤监测方法,其特征在于,所述基于所述光斑分析图、所述温度空间分...

【专利技术属性】
技术研发人员:王亮曾雅琴张赫天梁伟阁陈展鹏孙世岩周仁来
申请(专利权)人:中国人民解放军海军工程大学
类型:发明
国别省市:

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1