一种密钥完整性校验方法、系统、介质及程序产品技术方案

技术编号:46106056 阅读:12 留言:0更新日期:2025-08-15 19:46
本发明专利技术公开了一种密钥完整性校验方法、系统、介质及程序产品,属于密钥校验技术领域。方法用于SoC安全系统,包括以下步骤:初始化阶段,对测试设备的负载板上电,然后释放芯片外部全局复位;校验阶段,运行密钥SM3校验值编程测试序列,使用SM3算法进行密钥完整性校验;测试阶段,进行密钥SM3校验值测试,判断密钥SM3校验值测试是否通过,若密钥SM3校验值测试通过,则判断该芯片为良品,继续进行其他芯片测试,若密钥SM3校验值测试不通过,则判断该芯片为不良品。本发明专利技术通过国密SM3安全算法对存储在OTP/eFuse组件中的密钥进行校验,并将校验值存储到OTP/eFuse组件中,实现了密钥完整性的算法校验,安全性及可靠性大大提升。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及密钥校验,尤其涉及一种密钥完整性校验方法、系统、介质及程序产品


技术介绍

1、随着iot(internet of things, 物联网)技术和人工智能技术的快速发展,芯片存储数据的安全性和可靠性越来越重要,这使得efuse或otp(one timeprogrammable, 一次性编程器件)在嵌入式soc(system on chip, 片上系统芯片)芯片应用越来越广泛。otp作为非易失性存储器件是一次性可编程器件,具有很高的可靠性、极强的稳定性、抗辐照等特性,一旦被编程,数据将被otp生命周期内永久保存,不受外部干扰的影响,无法被篡改。

2、然而,efuse或otp仍然存在可靠性风险,经历长时间老化、宇宙射线等后从efuse或otp中读出的值可能发生变化,因此技术上通常会做冗余处理,比如通过2比特物理地址映射为1比特逻辑地址,通过增加冗余位来增强存储可靠性。现有技术仅用简单的技术降低了可靠性发生的风险,无法直观的确定是否发生存储比特翻转,无法在发生比特翻转时进行纠错,未通过安全算法保证存储的可靠性,在安全芯片领域应用安全性不本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种密钥完整性校验方法,其特征在于:用于SoC安全系统,包括以下步骤:

2.根据权利要求1所述的密钥完整性校验方法,其特征在于:所述的SoC安全系统包括:

3.根据权利要求1所述的密钥完整性校验方法,其特征在于:所述的测试设备为ATE机台或CPU。

4.根据权利要求3所述的密钥完整性校验方法,其特征在于:当测试设备为ATE机台时,所述校验阶段包括以下步骤:

5.根据权利要求3所述的密钥完整性校验方法,其特征在于:当测试设备为CPU时,所述校验阶段包括以下步骤:

6.根据权利要求3-5任一项所述的密钥完整性校验方法,其特征在于...

【技术特征摘要】

1.一种密钥完整性校验方法,其特征在于:用于soc安全系统,包括以下步骤:

2.根据权利要求1所述的密钥完整性校验方法,其特征在于:所述的soc安全系统包括:

3.根据权利要求1所述的密钥完整性校验方法,其特征在于:所述的测试设备为ate机台或cpu。

4.根据权利要求3所述的密钥完整性校验方法,其特征在于:当测试设备为ate机台时,所述校验阶段包括以下步骤:

5.根据权利要求3所述的密钥完整性校验方法,其特征在于:当测试设备为cpu时,所述校验阶段包括以下步骤:

6.根据权利要求3-5任一项所述的密钥完整性校验方法,其特征在于:当测试设...

【专利技术属性】
技术研发人员:刘海亮熊伟马翼丁镜然吕辉李书勇
申请(专利权)人:芯盛智能科技湖南有限公司
类型:发明
国别省市:

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