【技术实现步骤摘要】
本申请涉及存储，尤其涉及存储控制器的测试方法、装置、电子设备及存储介质。
技术介绍
1、在存储
中，存储设备包括多个存储单元，每一个存储单元的寿命都是有限的，例如，存储控制器可以对每一个存储单元执行几万次到几百万次的写入操作。为了实现存储设备中各个存储单元之间的磨损均衡，延迟存储设备的整体寿命，存储控制器可以均衡地在各个存储单元上进行写入操作。
2、但是，存储控制器的均衡访问操作可能存在问题，直接使用存储控制器可能导致均衡访问操作无法正确进行，从而减短存储设备的寿命。
技术实现思路
1、本申请提供了存储控制器的测试方法、装置、电子设备、存储介质、程序产品，以解决存储控制器无法正确进行均衡访问操作导致的存储设备寿命减短的问题。
2、本申请提供了一种存储控制器的测试方法，该方法应用于测试系统，测试系统包括测试设备、存储控制器，以及存储设备，方法由测试设备执行，方法包括：
3、获取与存储控制器的均衡访问操作所属目标类型对应的第一测试信息，以及存储设备包括...
【技术保护点】
1.一种存储控制器的测试方法，其特征在于，所述方法应用于测试系统，所述测试系统包括测试设备、存储控制器，以及存储设备，所述方法由所述测试设备执行，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的存储控制器的测试方法，其特征在于，当所述目标类型为动态均衡类型时，所述第一测试信息包括分组操作指示信息、擦除次数分配指示信息、随机写操作类型，以及与所述随机写操作类型对应的写操作次数；所述根据每一个所述存储单元的地址信息和所述第一测试信息，生成第二测试信息，包括：
3.根据权利要求2所述的存储控制器的测试方法，其特征在于，所述根据所述目标类型和每一个所述存储单元...
【技术特征摘要】
1.一种存储控制器的测试方法，其特征在于，所述方法应用于测试系统，所述测试系统包括测试设备、存储控制器，以及存储设备，所述方法由所述测试设备执行，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的存储控制器的测试方法，其特征在于，当所述目标类型为动态均衡类型时，所述第一测试信息包括分组操作指示信息、擦除次数分配指示信息、随机写操作类型，以及与所述随机写操作类型对应的写操作次数；所述根据每一个所述存储单元的地址信息和所述第一测试信息，生成第二测试信息，包括：
3.根据权利要求2所述的存储控制器的测试方法，其特征在于，所述根据所述目标类型和每一个所述存储单元的擦除次数，确定所述存储控制器执行所述均衡访问操作的测试结果，包括：
4.根据权利要求3所述的存储控制器的测试方法，其特征在于，所述根据每一个所述存储单元的擦除次数、每一个所述测试组对应的擦除次数，以及与每一个所述测试组对应的擦除次数变化幅度指示信息，确定所述测试结果，包括：...
【专利技术属性】
技术研发人员：栾玉雪，车利斌，孙海涛，
申请(专利权)人：苏州元脑智能科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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