【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于光学测量，具体涉及一种合成波长相位解调方法。
技术介绍
1、在大尺寸装备制造、精密机械安装及航空航天等领域，高精度、大量程且实时的距离以及高度测量需求日益增长。传统激光干涉测距技术虽凭借纳米级精度在精密工程中广泛应用，但其核心依赖干涉条纹的整数计数与细分，导致非模糊度量程仅为激光波长的一半(即[0,λ/2])，在面对大尺寸工件的高度差或表面起伏时，无法实现无歧义测量，严重制约了其应用范围。
2、为突破单波长测量的量程限制，基于绝对测距模式的多波长干涉技术成为关键方向。该技术通过合成多个波长的干涉信号，将非模糊度量程扩展至合成波长量级，显著提升了大范围测量能力。然而，当前多波长干涉技术仍面临多重挑战：(1)单波长固有局限：单波长相位测量受限于物理波长，仅能获取[0,λ/2]的高度信息，对于航空航天部件的毫米级高度差或大尺寸装备的表面轮廓测量，需频繁进行相位解包，易受噪声干扰导致解算错误。(2)多波长合成的相位模糊问题：传统多波长合成技术依赖两波长或三波长的相位差计算合成波长，但实际应用中，多波长光源的频率稳定性(...
【技术保护点】
1.一种高稳定性的合成波长相位解调方法，其特征在于，包括：基于三波长合成相位预处理与支路校正，通过计算二级合成波长扩展无歧义量程至毫米级；采用分阶段处理策略，先利用校正后合成相位生成粗测高度轮廓，再以整数周期遍历与局部微进结合误差函数优化，实现高效候选高度筛选；最后通过多波长一致性检验剔除异常解，确保抗噪性；具体步骤如下：
2.根据权利要求1所述的合成波长相位解调方法，其特征在于，步骤1中所述具体合成波长与合成相位计算，包括：
3.根据权利要求2所述的合成波长相位解调方法，其特征在于，步骤2中所述合成相位支路矫正，是针对相位周期性导致的多解分支...
【技术特征摘要】
1.一种高稳定性的合成波长相位解调方法，其特征在于，包括：基于三波长合成相位预处理与支路校正，通过计算二级合成波长扩展无歧义量程至毫米级；采用分阶段处理策略，先利用校正后合成相位生成粗测高度轮廓，再以整数周期遍历与局部微进结合误差函数优化，实现高效候选高度筛选；最后通过多波长一致性检验剔除异常解，确保抗噪性；具体步骤如下：
2.根据权利要求1所述的合成波长相位解调方法，其特征在于，步骤1中所述具体合成波长与合成相位计算，包括：
3.根据权利要求2所述的合成波长相位解调方法，其特征在于，步骤2中所述合成相位支路矫正，是针对相位周期性导致的多解分支，使合成相位在阶跃位置的跳变模糊，采用符号判...
【专利技术属性】
技术研发人员：王施相，姚润泽，吴韵婕，陈芃，刘勇，
申请(专利权)人：复旦大学，
类型：发明
国别省市：
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