微型发光二极管驱动电路及其测试方法技术

本公开公开一种微型发光二极管驱动电路及其测试方法。回应于完成制造一第一既定金属层，形成一第一测试路径，该第一测试路径通过一测试电路的一第一测试晶体管与一驱动电路，以测试在制造该第一既定金属层之前的至少一第一缺陷。回应于完成制造一第二既定金属层，形成一第二测试路径，该第二测试路径通过该测试电路的一第二测试晶体管与该驱动电路，以检测在制造该第一既定金属层之后所出现的至少一第二缺陷。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种微型发光二极管驱动电路及其测试方法。

技术介绍

1、μled(微型发光二极管，micro-led)目前已受到愈来愈多的注意，且其用途愈来愈广。μled是一种新兴的显示技术，具备多种应用场景，包括但不限于如下几点。μled应用于消费电子应用场景：(1)智能手表与穿戴设备：高亮度与低功耗适合小型屏幕的应用；以及，(2)智能手机：实现高分辨率与极佳的色彩表现。μled应用于大型显示器应用场景：(1)户外与室内显示墙：高亮度与长寿命适合各种公共显示用途；以及，(2)商业用途：在零售、广告牌等领域提供高质量视觉效果。μled应用于汽车与航空应用场景：(1)车内显示器：提供更佳的可视性与耐用性；以及，(2)飞机座椅娱乐系统：耐用、节能、视觉清晰。μled应用于ar/vr设备应用场景：μled的高亮度与小尺寸特性使其适合用于近眼显示(如ar眼镜、vr头戴设备等)。μled应用于医疗设备应用场景：当μled用于高分辨率的小型显示器时，可应用于内视镜、显微镜和其他医疗仪器等。μled应用于照明与特殊用途：μled可用于精密光源、光通信或特殊波段的应用，例如本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种微型发光二极管驱动电路的测试方法，包括：

2.如权利要求1所述的微型发光二极管驱动电路的测试方法，其中，该第一既定金属层为一第三金属层，以及，该第二既定金属层为一最后金属层或一倒数第二层金属层。

3.如权利要求1所述的微型发光二极管驱动电路的测试方法，其中，

4.如权利要求1所述的微型发光二极管驱动电路的测试方法，其中，

5.如权利要求1所述的微型发光二极管驱动电路的测试方法，其中，

6.一种微型发光二极管驱动电路，包括：

7.如权利要求6所述的微型发光二极管驱动电路，其中，该第一既定金属层为一第三金属层，以...

【技术特征摘要】

1.一种微型发光二极管驱动电路的测试方法，包括：

2.如权利要求1所述的微型发光二极管驱动电路的测试方法，其中，该第一既定金属层为一第三金属层，以及，该第二既定金属层为一最后金属层或一倒数第二层金属层。

3.如权利要求1所述的微型发光二极管驱动电路的测试方法，其中，

4.如权利要求1所述的微型发光二极管驱动电路的测试方法，其中，

5.如权利要求1所述的微型发光二极管驱动电路的...

【专利技术属性】
技术研发人员：锺岳宏，郑圣谚，徐雅玲，廖烝贤，
申请(专利权)人：友达光电股份有限公司，
类型：发明
国别省市：