质量分析装置制造方法及图纸

本发明专利技术能够提供一种在提高维护性的同时也紧凑的质量分析装置。质量分析部(40)具有第一框体(206)和配置在第一框体下方的第二框体(208)，在第一框体中配置有离子化单元(201)、具备四极滤质器的质量分析单元(202)、质量检测单元(203)及具备对四极滤质器施加高频电压的谐振电路(108)的RF输出单元(205)，在第二框体中配置有基板收纳单元(204)，该基板收纳单元(204)至少收纳将生成高频信号的RF控制电路(101)包含在内的控制电路基板、和将放大高频信号并供给至谐振电路的RF放大器(107)包含在内的RF基板，在第一框体中从前表面朝向后表面配置有离子化单元、质量分析单元以及质量检测单元，在第二框体中在前表面配置有基板收纳单元。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】

本专利技术涉及质量分析装置。

技术介绍

1、质量分析装置是通过对分析对象试料进行离子化，分析所生成的离子的质量来确定分析对象试料等的装置，由于其测定精度的高度，近年来在临床检查、制药研究等领域也得到了活用。质量分析装置具有基于质量分离离子的质量分析单元。虽然存在多个基于质量分离离子的方式，但专利文献1所示的使用四极的方式是其代表性的方式。质量分析单元包括彼此相对的两组电极(四极电极)，通过对四极电极施加高频电压，在四极电极内部形成高频电场。分析对象试料的离子一边在该高频电场内振动一边向检测部前进。

2、现有技术文献

3、专利文献

4、专利文献1：日本专利特开平10-112282号公报

技术实现思路

1、专利技术所要解决的技术问题

2、为了能够将多个试料以高吞吐量进行处理，优选质量分析装置能够对搬入到装置的试料进行预处理，分离作为分析对象的试料的成分，连续地进行质量分析这样的一系列处理，并将其紧凑地构成。因此，通过将这些各功能模块化、结合来构成装置。其结果，对于操本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种质量分析装置，是包括质量分析部的质量分析装置，其特征在于，

2.如权利要求1所述的质量分析装置，其特征在于，

3.如权利要求2所述的质量分析装置，其特征在于，

4.如权利要求2所述的质量分析装置，其特征在于，

5.如权利要求2所述的质量分析装置，其特征在于，

6.如权利要求2所述的质量分析装置，其特征在于，

7.如权利要求1至6的任一项所述的质量分析装置，其特征在于，具有：

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】

1.一种质量分析装置，是包括质量分析部的质量分析装置，其特征在于，

2.如权利要求1所述的质量分析装置，其特征在于，

3.如权利要求2所述的质量分析装置，其特征在于，

4.如权利要求2所述的质...

【专利技术属性】
技术研发人员：井出光希，古矢勇夫，近藤克，王子豪，西元琢真，
申请(专利权)人：株式会社日立高新技术，
类型：发明
国别省市：