干涉反射显微镜及分析一样本的方法技术

技术编号:46046903 阅读:9 留言:0更新日期:2025-08-11 15:36
本发明专利技术涉及一种干涉反射显微镜,其采用空间相干、时间非相干的光源进行操作。由此,可以避免散斑图案的形成,并且不再需要用于滤除此类散斑图案的滤光片。本发明专利技术还涉及一种相关方法。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】

本专利技术涉及一种干涉反射显微镜以及使用一干涉反射显微镜分析一样本的方法。


技术介绍

1、显微镜通常用于不同类型的样本检查或观察。一种可行的显微镜设计是干涉反射显微镜(interference reflection microscope),其通常用一激发光照射一样本,并利用反射光进行评估。由于干涉效应,光中可以产生信息内容,例如,可对分子进行光度质谱分析(photometric mass spectrometry)。

2、young等人在science 360,423-427(2018)及其随附补充材料中公开了一种示例性实施方案。在这个实施方案中,使用了中央阻挡滤光片来抑制散斑图案(specklepatterns)。


技术实现思路

1、本专利技术的目的在于提供一种干涉反射显微镜,其可替代现有设计或优于现有设计。本专利技术的另一目的在于提供用于分析一样本的一种相应的方法。

2、根据本专利技术,通过根据各个独立权利要求所述的干涉反射显微镜及其方法实现这个目的。例如,可在各从属权利要求中找到本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种干涉反射显微镜(IRM),其特征在于:所述干涉反射显微镜包含:一光源(LI),

2.根据权利要求1所述的干涉反射显微镜(IRM),其特征在于:

3.根据前述权利要求任一项所述的干涉反射显微镜(IRM),其特征在于:所述光源(LI)是一超辐射发光二极管。

4.根据前述权利要求任一项所述的干涉反射显微镜(IRM),其特征在于:所述光源不是一激光光源。

5.根据前述权利要求任一项所述的干涉反射显微镜(IRM),其特征在于:

6.根据前述权利要求任一项所述的干涉反射显微镜(IRM),其特征在于:

7.根据前述权利要求...

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】

1.一种干涉反射显微镜(irm),其特征在于:所述干涉反射显微镜包含:一光源(li),

2.根据权利要求1所述的干涉反射显微镜(irm),其特征在于:

3.根据前述权利要求任一项所述的干涉反射显微镜(irm),其特征在于:所述光源(li)是一超辐射发光二极管。

4.根据前述权利要求任一项所述的干涉反射显微镜(irm),其特征在于:所述光源不是一激光光源。

5.根据前述权利要求任一项所述的干涉反射显微镜(irm),其特征在于:

6.根据前述权利要求任一项所述的干涉反射显微镜(irm),其特征在于:

7.根据前述权利要求任一项所述的干涉反射显微镜(irm),其特征在于:

8.根据前述权利要求任一项所述的干涉反射显微镜(irm),其特征在于:所述干涉反射显微镜具有一分束器(st),

9.根据权利要求8所述的干涉反射显微镜(irm),其特征在于:

10.根据权利要求9所述的干涉反射显微镜(irm),其特征在于:

11.根据权利要求8至10任一项所述的干涉反射显微镜(irm),其特征在于:

12.根据权利要求8至11任一项所述的干涉反射显微镜(irm),其特征在于:

13.根据前述权利要求任一项所述的干涉反射显微镜(irm),其特征在于:所述照明光学件(bo)被设计成与所述检测光学件(do)完全独立。

14.根据前述权利要求任一项所述的干涉反射显微镜(irm),其特征在于:

15.根据前述权利要求任一项所述的干涉反射显微镜(irm),其特征在于:

16.根据权利要求15所述的干涉反射显微镜(irm),其特征在于:

17.根据权利要求15所述的干涉反射显微镜(irm),其特征在于:

18.根据权利要求15至17任一项所述的干涉反射显微镜(irm),其特征在于:

19.根据权利要求15至18任...

【专利技术属性】
技术研发人员:埃里克·谢弗尔安妮塔·扬纳施桑德罗·明希汤姆·施图姆普维多利亚·韦德勒
申请(专利权)人:奥格门特生物科技股份有限公司
类型:发明
国别省市:

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