【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及显微成像，一种基于相位差异算法的点扫描荧光显微镜像差估计方法。
技术介绍
1、结构光照明显微技术(structured illumination microscopy,sim)是一种广泛应用的超分辨率成像技术，能够突破传统光学显微镜的衍射极限，从而观察到更精细的细胞结构和生物过程。点扫描结构光照明显微镜(point scanning structuredillumination microscopy,ps-sim)作为sim的一种重要变体，结合了结构光照明和点扫描显微镜的优势，尤其适用于复杂生物样品的三维超分辨率成像。
2、然而，在实际应用中，由于光学元件的制造误差、装调误差以及环境因素的影响，成像系统不可避免地会引入像差，导致点扩散函数(point spread function,psf)发生畸变，从而降低图像的分辨率、对比度和信噪比，严重影响成像质量和后续分析的准确性。尤其是在高分辨率三维成像中，像差的影响更为显著。即使是微小的像差，也会导致psf的扩展和变形，使得原本清晰的图像变得模糊。因此，对ps-si...
【技术保护点】
1.一种基于相位差异算法的点扫描荧光显微镜像差估计方法，其特征在于，具体步骤如下：
2.根据权利要求1中所述的基于相位差异算法的点扫描荧光显微镜像差估计方法，其特征在于：所述步骤5)中点扫描荧光显微系统的点扩散函数数学模型如下：
3.根据权利要求1中所述的基于相位差异算法的点扫描荧光显微镜像差估计方法，其特征在于：所述目标函数的表达式如下：
4.根据权利要求1中所述的基于相位差异算法的点扫描荧光显微镜像差估计方法，其特征在于：所述泽尼克系数更新方程表达式如下：
5.根据权利要求4中所述的基于相位差异算法的点扫描荧光显微镜...
【技术特征摘要】
1.一种基于相位差异算法的点扫描荧光显微镜像差估计方法，其特征在于，具体步骤如下：
2.根据权利要求1中所述的基于相位差异算法的点扫描荧光显微镜像差估计方法，其特征在于：所述步骤5)中点扫描荧光显微系统的点扩散函数数学模型如下：
3.根据权利要求1中所述的基于相位差异算法的点扫描荧光显微镜像差估计方法，其特征在于：所述目标函数的表达式如下：
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