一种新型超低硅含量测试系统技术方案

本发明专利技术公开了一种新型超低硅含量测试系统，涉及分析测试技术领域，该系统由控制单元、电源、测试单元、泵组、比色池、溢流池和泄压阀组成；泵组包括三个标准蠕动泵，用于水样及试剂输送；比色池采用特殊结构，金属管连接peek管路并配合光纤使用；测试单元配备特定的光电二极管和发光二级管，以消除干扰；通过特定操作流程获取检测信号，并依据预设公式计算硅元素含量；本发明专利技术使用金属管比色皿实现长光程和低试剂消耗，双灯三PD光学配置方案搭配补偿公式有效消除气泡干扰和电气漂移，能更准确地测量超低硅含量。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及分析测试，具体是一种新型超低硅含量测试系统。

技术介绍

1、在现代工业生产和科研实验领域，超纯水的质量把控至关重要，水中硅含量作为衡量超纯水机纯化能力的关键指标，其精确测量是确保超纯水满足各类使用需求的核心环节。在半导体制造、高端电子设备生产等一些前沿科研实验场景中，超纯水中硅含量的把控尤为重要，哪怕出现一点偏差都可能导致实验的失败。

2、近年来，随着各行业对超纯水纯度要求的不断提高，超纯水中低含量硅的测量难度也愈发凸显。目前，普遍采用湿法化学法测量水中硅含量。这一传统测量方法在面对低硅含量时，当硅含量处于极低水平时，其吸光度数值极小，这一测量方法难以准确获取数据。

3、为应对这一难题，业界提出了两种主要解决方案。方案一是先对样水进行浓缩，而后再运用湿法化学法测量，最后根据倍数换算出样水原本的硅含量。该方案中，浓缩单元不仅体积大，占据大量空间，而且造价高昂，这无疑是大幅度增加了检测成本，限制了其在实际生产与科研中的广泛应用。方案二则是通过增大比色皿尺寸，增加光程来提升吸光度测量的准确性，但大比色皿导致试剂消耗量剧增，需本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种新型超低硅含量测试系统，其特征在于：所述测试系统包括：控制单元(1)、电源(2)、测试单元(3)、泵组(4)、比色池(5)、混液池(6)、溢流池(7)和泄压阀(8)；

2.根据权利要求1所述的一种新型超低硅含量测试系统，其特征在于：所述泵组(4)包括三个标准蠕动泵；其中，第一标准蠕动泵的主软管连接所述混液池(6)的第一端，所述第一标准蠕动泵的辅助软管与所述泄压阀(8)相连；第二标准蠕动泵的主软管连接所述混液池(6)的第二端口，所述第二标准蠕动泵的辅助软管与所述泄压阀(8)相连；第三标准蠕动泵的主软管连接所述混液池(6)的第三端，所述第三标准蠕动泵的辅助软管与所述溢流池...

【技术特征摘要】

1.一种新型超低硅含量测试系统，其特征在于：所述测试系统包括：控制单元(1)、电源(2)、测试单元(3)、泵组(4)、比色池(5)、混液池(6)、溢流池(7)和泄压阀(8)；

2.根据权利要求1所述的一种新型超低硅含量测试系统，其特征在于：所述泵组(4)包括三个标准蠕动泵；其中，第一标准蠕动泵的主软管连接所述混液池(6)的第一端，所述第一标准蠕动泵的辅助软管与所述泄压阀(8)相连；第二标准蠕动泵的主软管连接所述混液池(6)的第二端口，所述第二标准蠕动泵的辅助软管与所述泄压阀(8)相连；第三标准蠕动泵的主软管连接所述混液池(6)的第三端，所述第三标准蠕动泵的辅助软管与所述溢流池(7)相连。

3.根据权利要求1所述的一种新型超低硅含量测试系统，其特征在于：所述比色池(5)包括第一peek管路、第二peek管路、第一光纤、第二光纤、金属管；其中，第一光纤的第一端与所述第一peek管路的第一端相连；所述第二光纤的第一端与所述第二peek管路的第一端相连；所述金属管将所述第一peek管路、所述第二peek管路的第二端进行连接。

4.根据权利要求3所述的一种新型超低硅含量测试系统，其特征在于：所述测试单元(3)包括光电二极管pd1、光电二极管pd2、光电二极管pd3、发光二极管led1、发光二极管led2；其中，所述光电二极管pd...

【专利技术属性】
技术研发人员：朱波，杨胜，
申请(专利权)人：常州罗盘星检测科技有限公司，
类型：发明
国别省市：