【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于太赫兹测量，具体涉及一种光子太赫兹矢量分析系统。
技术介绍
1、太赫兹辐射是指频率范围为0.1～10thz(波长0.03～3mm)的电磁波，位于微波与红外波段之间。由于其具有大带宽、安全性好、穿透性强等优势，太赫兹技术在超高速通信、成像、雷达等领域展现出重要的研究与应用价值。近年来，随着太赫兹相关技术和产业的快速发展，太赫兹系统正加速从实验室走向产业化，然而，这一进程对信号分析技术提出了更高要求：传统的功率检测方法已无法满足复杂调制信号解调、器件非线性特性表征等需求，亟需能够实现幅相联合分析的矢量测量解决方案。
2、矢量信号分析(vector signalanalysis，vsa)是一种通过同时获取电磁信号的幅度、相位和频率信息，以表征信号完整复数特性(包括时域波形、频域频谱及调制质量)的技术。在射频微波领域，矢量网络分析仪(vna)被广泛用于测量器件、电缆及接头的散射参数(s参数)，成为该频段的通用测量工具。然而，在太赫兹波段，矢量信号分析成为研究太赫兹通信、成像、光谱学等领域的关键工具，但由于传统微波测量设...
【技术保护点】
1.一种光子太赫兹矢量分析系统，其特征在于，包括：信号产生链路、待测器件和信号接收链路；
2.根据权利要求1所述的光子太赫兹矢量分析系统，其特征在于，所述信号产生链路包括：可调谐激光器、射频源、光调制器、光滤波器、光放大器和太赫兹发射器；
3.根据权利要求2所述的光子太赫兹矢量分析系统，其特征在于，所述射频源包括频率可调的射频信号源或者矢量网络分析仪。
4.根据权利要求2所述的光子太赫兹矢量分析系统，其特征在于，所述光滤波器包括基于液晶硅的可编程光滤波器。
5.根据权利要求2所述的光子太赫兹矢量分析系统，其特征在于，所述...
【技术特征摘要】
1.一种光子太赫兹矢量分析系统，其特征在于，包括：信号产生链路、待测器件和信号接收链路；
2.根据权利要求1所述的光子太赫兹矢量分析系统，其特征在于，所述信号产生链路包括：可调谐激光器、射频源、光调制器、光滤波器、光放大器和太赫兹发射器；
3.根据权利要求2所述的光子太赫兹矢量分析系统，其特征在于，所述射频源包括频率可调的射频信号源或者矢量网络分析仪。
4.根据权利要求2所述的光子太赫兹矢量分析系统，其特征在于，所述光滤波器包括基于液晶硅的可编程光滤波器。
5.根据权利要求2所述的光子太赫兹矢量分析系统，其特征在于，所述太赫兹发射器包括单行载流子光电探测器或者共振隧穿二极管。
6.根据权利要求2所述的光子太赫兹矢量分析系统，其特征在于，信号接收链路包括太赫兹电光调制器、光电探测器和幅相分析模块；
7.根据权利要求6所述的光子太赫兹矢量分析系统...
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