内置自测试电路和包括内置自测试电路的温度测量电路制造技术

一种温度测量电路，包括：带隙基准电路，被配置为生成与工作温度无关的固定的带隙基准电压；基准电压生成器电路，被配置为通过调整所述带隙基准电压生成测量基准电压；感测电路，被配置为基于偏置电流生成温变电压，其中，所述温变电压根据所述工作温度变化；模数转换器电路，被配置为基于所述测量基准电压和所述温变电压生成指示所述工作温度的第一数字代码；以及模拟内置自测试（BIST）电路，被配置为生成多个标志信号，其指示所述带隙基准电压、所述测量基准电压和与所述偏置电流相对应的偏置电压中的每一个是否包括在预定范围内。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术构思的示例性实施例总体涉及半导体集成电路，更具体地涉及内置自测试（bist）电路和包括该bist电路的温度测量电路。

技术介绍

1、可以监视和测量工作温度以提高半导体集成电路的性能。例如，基于所测量的工作温度，可以控制电子设备的功率级，可以控制存储设备的刷新周期，可以防止电路损坏等等。随着运行速度和性能水平的提高，热量管理变得更加重要。与集成电路在同一半导体管芯中集成的片上温度传感器可以用于检测集成电路的各个结的温度。如果片上温度传感器出现故障，则由于关于工作温度的错误信息，半导体集成电路的性能可能下降或半导体集成电路可能损坏。具体地，车辆中使用的半导体集成电路的错误温度信息可能直接影响载具驾驶员的生命。

技术实现思路

1、根据本专利技术构思的示例性实施例，一种温度测量电路包括：带隙基准电路，被配置为生成与工作温度无关的固定的带隙基准电压；基准电压生成器电路，被配置为通过调整所述带隙基准电压生成测量基准电压；感测电路，被配置为基于偏置电流生成温变电压，其中，所述温变电压根据所述工作温度变化；模数转换本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种温度测量电路，包括：

2.根据权利要求1所述的温度测量电路，其中所述数字内置自测试BIST电路包括：

3.根据权利要求2所述的温度测量电路，其中，所述数字内置自测试BIST电路被配置为基于所述第二数字代码的多个值生成单调警报信号或线性警报信号中的至少一个，

4.根据权利要求1所述的温度测量电路，其中，所述测试信号具有与所述第二数字代码的中心值相对应的电压电平，并且

5.根据权利要求1所述的温度测量电路，其中，所述测试信号具有比与所述第二数字代码的最大值相对应的电压电平更高的电压电平，并且

6.根据权利要求1所述的温度测量...

【技术特征摘要】

1.一种温度测量电路，包括：

2.根据权利要求1所述的温度测量电路，其中所述数字内置自测试bist电路包括：

3.根据权利要求2所述的温度测量电路，其中，所述数字内置自测试bist电路被配置为基于所述第二数字代码的多个值生成单调警报信号或线性警报信号中的至少一个，

4.根据权利要求1所述的温度测量电路，其中，所述测试信号具有与所述第二数字代码的中心值相对应的电压电平，并且

5.根据权利要求1所述的温度测量电路，其中，所述测试信号具有比与所述第二数字代码的最大值相对应的电压电平更高的电压电平，并且

6.根据权利要求1所述的温度测量电路，其中所述数字内置自测试bist电路包括：

7.根据权利要求6所述的温度测量电路，其中，所述数字内置自测试bist电路被配置为：

8.根据权利要求1所述的温度测量电路，其中，所述模数转换器电路包括：

9.根据权利要求8所述的温度测量电路，其中，所述数字内置自测试bist电路被配置为：

10.根据权利要求8所述的温度测量电路，其中，所述数字内置自测试bist电路包括：计数器，被配置为监测所述模数转换器电路...

【专利技术属性】
技术研发人员：申浚熙，金柱成，李龙珍，崔炳注，金光镐，金赏镐，
申请(专利权)人：三星电子株式会社，
类型：发明
国别省市：