一种大口径天线的平面近场快速测量方法技术

本发明专利技术提供了一种大口径天线的平面近场快速测量方，涉及天线技术领域。该方法通过大步长均匀采样，获得待测天线辐射近场区若干个采样面的稀疏场幅相信息；同时，对各采样面采样有限条精确的场幅相信息，并通过计算采样点幅值的波动程度得到场分布特征；基于采样面的稀疏场幅相信息和场分布特征，利用分区插值、场分布校准方法，得到各采样面的初始电场；基于平面波谱理论对初始电场进行数值迭代，恢复出各采样面的近场分布，最后通过近远场变换得到天线的远场辐射特性。本发明专利技术方法可在大幅缩短测试时间的同时得到天线远场特性中的关键指标，包括归一化方向图主瓣与第一副瓣、3dB波束宽度、副瓣电平和轴比等。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及天线，特别涉及一种大口径天线的平面近场快速测量方法。

技术介绍

1、近年来，随着深空探测、卫星通信和雷达遥感等领域的迅速发展，大口径天线的应用需求日益增长。其高增益、窄波束和高分辨率等特性，使其在远距离通信与高精度成像中具有不可替代的优势。天线性能直接决定系统整体效能，因此天线测试成为关键环节。现有测试方法主要分为两类：一是直接法，包括远场法、聚焦法和紧缩场法；二是间接法，即近场测量。相较于直接法，近场测量具有空间需求小、精度高、环境适应性强和测试效率高等优势，已成为主流技术。根据测量面形式不同，近场测量可分为平面、柱面和球面测量，其中平面测量因其结构简单、精度高、适用性广和成本低，应用最为广泛。

2、传统的平面近场测量方法按照nyquist采样定理，在近场区获取电场的幅相信息，通过近远场变换得到远场特性。该方法要求采样间距不超过半波长，且随着天线工作频率提高，采样点数激增，导致测试时间显著增加；长时间测试易引起发射系统输出场的幅相波动，影响测量精度。

3、目前，毫米波天线平面近场测量主要采用以下两种无相位测量方法：<本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种大口径天线的平面近场快速测量方法，其特征在于，所述平面近场快速测量方法，包括：通过大步长均匀采样，获得待测天线辐射近场区若干个采样面的稀疏场幅相信息；同时，对各采样面采样有限条精确的场幅相信息，并通过计算采样点幅值的波动程度得到场分布特征；基于采样面的稀疏场幅相信息和场分布特征，利用分区插值、场分布校准方法，得到各采样面的初始电场；基于平面波谱理论对初始电场进行数值迭代，恢复出各采样面的近场分布，最后通过近远场变换得到天线的远场辐射特性。

2.如权利要求1所述的一种大口径天线的平面近场快速测量方法，其特征在于，具体包括如下步骤：

3.如权利要求2所述的一种...

【技术特征摘要】

1.一种大口径天线的平面近场快速测量方法，其特征在于，所述平面近场快速测量方法，包括：通过大步长均匀采样，获得待测天线辐射近场区若干个采样面的稀疏场幅相信息；同时，对各采样面采样有限条精确的场幅相信息，并通过计算采样点幅值的波动程度得到场分布特征；基于采样面的稀疏场幅相信息和场分布特征，利用分区插值、场分布校准方法，得到各采样面的初始电场；基于平面波谱理论对初始电场进行数值迭代，恢复出各采样面的近场分布，最后通过近远场变换得到天线的远场辐射...

【专利技术属性】
技术研发人员：吴泽威，张和权，张冉，王丽，刘国，王建勋，罗勇，
申请(专利权)人：电子科技大学，
类型：发明
国别省市：