一种透射电子显微镜模拟进样系统技术方案

本发明专利技术公开了一种透射电子显微镜模拟进样系统，属于透射电镜练习设备技术领域，包括设备主体、显示器和抽真空装置；设备主体包括支架，支架上设置有套筒，套筒的一端为送样面板，送样面板上设有样品导向槽和限位孔，中心处设有送样口，套筒另一端设有对接口，可对接抽真空装置；套筒内部设有第一孔道和第二孔道，第一孔道内位于靠近送样口处设有触发弹片，第一孔道和第二孔道的对接处设有导向滑道；第一孔道的外部分布有三个激光探测器，激光探测器将数值传输至显示器中并显示，显示器可控制抽真空装置；本发明专利技术既能够准确找到操作手法的不足，又能够在给出纠正方案的同时更进一步提高操作的精度。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及透射电镜练习设备，尤其涉及一种透射电子显微镜模拟进样系统。

技术介绍

1、透射电子显微镜(transmission electron microscope,tem)是材料微观结构表征的重要工具，在材料学、生物学、物理学和化学领域有着广泛的应用。在大型仪器设备开放共享公共服务平台中，tem的使用率非常高，但是由于tem测试的特殊性，需要测试人员亲自操作，占用相当大的时间和精力，导致仪器的使用效率不高。为了解决仪器利用率的问题，需要培训更多的老师和学生进行上机操作。在tem上机培训过程中，进出样品杆掉真空是普遍存在的问题，但是，tem频繁掉真空会对仪器设备造成不可逆的损伤，比如，污染电镜，降低电子光学系统的性能，影响电镜的分辨率和稳定性；同时，会造成电镜其他附件(电子枪、真空泵)的损坏，导致设备故障需要维修等等。为了降低培训过程中掉真空的概率，需要在培训过程中加强tem进出样练习，而练习过程中就会增加掉真空频次，这是一个矛盾的过程，因此，为了解决这个问题，我们设计了一种独立的tem进出样模拟系统，既可以增加培训人员进出样练习的频次，也可以避免频繁本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种透射电子显微镜模拟进样系统，其特征在于：包括设备主体(1)、显示器(2)和抽真空装置(3)；

2.根据权利要求1所述的一种透射电子显微镜模拟进样系统，其特征在于：所述检测器为激光探测器(112)，共三个一组。

【技术特征摘要】

1.一种透射电子显微镜模拟进样系统，其特征在于：包括设备主体(1)、显示器(2)和抽真空装置(3)；

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【专利技术属性】
技术研发人员：暴丽霞，邵瑞文，常晓雪，高培峰，闫丽，
申请(专利权)人：北京理工大学，
类型：发明
国别省市：