设计评价装置、设计评价方法及程序制造方法及图纸

评价目标物质的候补设计的外推度。设计评价装置，包括：参照设计决定部，其构成为决定表示使用两种以上的材料物质制造的目标物质的配方的参照设计；候补设计决定部，其构成为决定表示与参照设计不同的配方的候补设计；等级决定部，其构成为基于表示候补设计与参照设计的配方的差的分类，决定表示候补设计的外推度的等级；以及结果输出部，其构成为将候补设计与等级相关联并输出。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】

本专利技术涉及一种设计评价装置、设计评价方法及程序。

技术介绍

1、以往，材料开发基于工程师的经验和直觉。近年来，利用诸如机器学习的信息处理技术来提高材料开发效率的技术。

2、例如，专利文献1公开了一种用于设计新型化学产品的设计辅助系统。专利文献1公开的设计辅助系统在虚拟空间中绘制与现存化学产品相关的第1参数对应的现存点和作为用于设计新型化学产品的第2参数的候补的空缺点，提取与现存点的距离大于特定距离的空缺点。

3、专利文献1：日本特开2022-71456号公报

技术实现思路

1、<本专利技术要解决的问题>

2、然而，以往的技术存在对目标物质的候补设计的外推度不进行评价的问题。当从基于机器学习的预测中选择材料物质及其配方时，在远离现存实验数据的外推区域中，预测值与通过实验获得的值之间容易产生大的误差。因此，如果在不了解候补设计的外推度的情况下基于该候补设计进行实验，则可能导致对设计辅助系统的期望或可靠性的降低。

3、本专利技术鉴于上述技术问题，旨在评本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种设计评价装置，包括：

2.根据权利要求1所述的设计评价装置，其中，

3.根据权利要求2所述的设计评价装置，其中，

4.根据权利要求1至3中任一项所述的设计评价装置，其中，

5.根据权利要求4所述的设计评价装置，其中，

6.根据权利要求5所述的设计评价装置，其中，

7.一种设计评价方法，由计算机执行下述步骤：

8.一种程序，用于使计算机执行下述步骤：

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】

1.一种设计评价装置，包括：

2.根据权利要求1所述的设计评价装置，其中，

3.根据权利要求2所述的设计评价装置，其中，

4.根据权利要求1至3中任一项所述的设计评价装置，其中，

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【专利技术属性】
技术研发人员：李海仁，小川真广，竹本真平，奥野好成，
申请(专利权)人：株式会社力森诺科，
类型：发明
国别省市：