【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及天线脉冲，更具体地，涉及宽角扫描液晶相控阵设计方法、设备及存储介质。
技术介绍
1、在当下前沿的电子工程
，传统阵列天线设计方法在面对复杂多变的通信与探测场景时，暴露出诸多局限，在宽角扫描应用场景下阵列天线需要兼顾太赫兹频段与微波频段的电磁特性，然而现有技术难以精准构建双频段电磁特性矩阵，导致阵列单元的分布密度和曲面曲率参数确定不合理，扫描范围受限，从柔性基板的力学性能角度来看现有设计往往忽略其弹性模量、厚度与最大许用应力间的内在关联，无法精准计算最小曲率半径，使得阵列在实现大视场角扫描时，力学结构稳定性欠佳；现有技术在阵列单元间距确定方面缺乏有效拟合计算手段，难以在保证双频段隔离度和调控效率的前提下，获取最优单元间距，同时对于阵列单元的最优排列方式和数量计算也存在系统性不足的问题，难以实现阵列性能的最优化，此外多物理场调控模块与阵列单元的集成设计更是难题，现有调控手段难以实现高效、动态的波束调控，无法满足复杂环境下快速波束转向的需求。
2、现有技术难以确定阵列单元分布密度、曲面曲率参数，无法计算满足双频...
【技术保护点】
1.宽角扫描液晶相控阵设计方法，其特征在于，包括以下步骤：
2.根据权利要求1所述的宽角扫描液晶相控阵设计方法，其特征在于，所述计算阵列单元的分布密度目标参数和曲面曲率目标参数，包括以下步骤：
3.根据权利要求1所述的宽角扫描液晶相控阵设计方法，其特征在于，所述计算阵列的曲率半径包括以下步骤：
4.根据权利要求1所述的宽角扫描液晶相控阵设计方法，其特征在于，所述建立石墨烯超表面参数集合和液晶层参数集合包括以下步骤：
5.根据权利要求1所述的宽角扫描液晶相控阵设计方法，其特征在于，所述根据所述石墨烯超表面参数集合和液晶层参...
【技术特征摘要】
1.宽角扫描液晶相控阵设计方法，其特征在于，包括以下步骤：
2.根据权利要求1所述的宽角扫描液晶相控阵设计方法，其特征在于，所述计算阵列单元的分布密度目标参数和曲面曲率目标参数，包括以下步骤：
3.根据权利要求1所述的宽角扫描液晶相控阵设计方法，其特征在于，所述计算阵列的曲率半径包括以下步骤：
4.根据权利要求1所述的宽角扫描液晶相控阵设计方法，其特征在于，所述建立石墨烯超表面参数集合和液晶层参数集合包括以下步骤：
5.根据权利要求1所述的宽角扫描液晶相控阵设计方法，其特征在于，所述根据所述石墨烯超表面参数集合和液晶层参数集合生成若干具有不同单元间距的阵列模型，向各所述模型中导入双频段隔离度目标参数和调控效率约束条件，拟合计算获取单元间距集合包括：
6.根据权利要求1所述的宽...
【专利技术属性】
技术研发人员：吴一航，王洪波，
申请(专利权)人：成都立扬信息技术有限公司，
类型：发明
国别省市：
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