【技术实现步骤摘要】
本技术涉及光学检测,尤其涉及一种集光元件和光电探测器。
技术介绍
1、目前对于光的探测在生产生活中都有着极大的用处,光电探测器可以用于对产品的光强判断、漏光检测、波长分析等等,用途广泛。在光电探测器的研发领域,收集光线的能力是提升设备性能的关键因素之一。理想的光电探测器应具备对光线的高度敏感性,以实现卓越的信噪比。此外,光电探测器的性能不仅取决于其对小角度入射光的精确探测能力,也依赖于其对大角度入射光的准确响应。
2、目前市场上的光电探测器的集光元件多为平面结构,无法有效收集来自不同角度的光线,尤其是对于大角度的入射光线。光线随着入射角的增大,反射光线占比随着增加,从而使得入射到光电接收器上的光线减少,导致光电收集效率降低,光电探测器的检测精度下降或不准。
3、有鉴于此,确有必要提供一种集光元件和光电探测器,以解决上述问题。
技术实现思路
1、本技术的目的在于提供一种集光效率高的集光元件。
2、为实现上述目的,本技术提供了一种集光元件,应用于光电探测器,
...【技术保护点】
1.一种集光元件,应用于光电探测器,其特征在于,包括:
2.根据权利要求1所述的集光元件,其特征在于,多个所述非球面微结构(12)为相同大小的微结构,或多个所述非球面微结构(12)之间为等比例放大或缩小的微结构。
3.根据权利要求2所述的集光元件,其特征在于,位于所述第一平面(111)上的非球面微结构(12)的面型公式为:
4.根据权利要求3所述的集光元件,其特征在于,β的取值范围为[-15,15]。
5.根据权利要求1所述的集光元件,其特征在于,定义所述非球面微结构(12)在所述第一平面(111)上的出光面具有开口长度
...【技术特征摘要】
1.一种集光元件,应用于光电探测器,其特征在于,包括:
2.根据权利要求1所述的集光元件,其特征在于,多个所述非球面微结构(12)为相同大小的微结构,或多个所述非球面微结构(12)之间为等比例放大或缩小的微结构。
3.根据权利要求2所述的集光元件,其特征在于,位于所述第一平面(111)上的非球面微结构(12)的面型公式为:
4.根据权利要求3所述的集光元件,其特征在于,β的取值范围为[-15,15]。
5.根据权利要求1所述的集光元件,其特征在于,定义所述非球面微结构(12)在所述第一平面(111)上的出光面具有开口长度d,在垂直于所述第一平面(111)的高度方向上,所述非球面微结构(12)具有高度h,所述高度h与所述开口长度d的比值大于1。
6.根据权...
【专利技术属性】
技术研发人员:徐日民,
申请(专利权)人:欧普照明股份有限公司,
类型:新型
国别省市:
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