集光元件和光电探测器制造技术

技术编号:45914368 阅读:13 留言:0更新日期:2025-07-25 17:45
本技术提供了一种集光元件及光电探测器,集光元件,包括:本体,所述本体包括相对设置的第一平面和第二平面,在所述本体上,自所述第一平面向远离所述第二平面方向凸起形成多个非球面微结构,所述非球面微结构包括朝向外侧的入光面和朝向内侧的反射面,以及位于所述第一平面上的出光面;所述非球面微结构配置为对所述入光面进入的入射光线进行全反射后从所述第二平面射出。本技术的集光元件能够将大角度的入射光线转变为小角度的出射光线,从而提高集光元件的集光效率。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及光学检测,尤其涉及一种集光元件和光电探测器


技术介绍

1、目前对于光的探测在生产生活中都有着极大的用处,光电探测器可以用于对产品的光强判断、漏光检测、波长分析等等,用途广泛。在光电探测器的研发领域,收集光线的能力是提升设备性能的关键因素之一。理想的光电探测器应具备对光线的高度敏感性,以实现卓越的信噪比。此外,光电探测器的性能不仅取决于其对小角度入射光的精确探测能力,也依赖于其对大角度入射光的准确响应。

2、目前市场上的光电探测器的集光元件多为平面结构,无法有效收集来自不同角度的光线,尤其是对于大角度的入射光线。光线随着入射角的增大,反射光线占比随着增加,从而使得入射到光电接收器上的光线减少,导致光电收集效率降低,光电探测器的检测精度下降或不准。

3、有鉴于此,确有必要提供一种集光元件和光电探测器,以解决上述问题。


技术实现思路

1、本技术的目的在于提供一种集光效率高的集光元件。

2、为实现上述目的,本技术提供了一种集光元件,应用于光电探测器,包括:本体,所述本体本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种集光元件,应用于光电探测器,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的集光元件,其特征在于,多个所述非球面微结构(12)为相同大小的微结构,或多个所述非球面微结构(12)之间为等比例放大或缩小的微结构。

3.根据权利要求2所述的集光元件,其特征在于,位于所述第一平面(111)上的非球面微结构(12)的面型公式为:

4.根据权利要求3所述的集光元件,其特征在于,β的取值范围为[-15,15]。

5.根据权利要求1所述的集光元件,其特征在于,定义所述非球面微结构(12)在所述第一平面(111)上的出光面具有开口长度D,在垂直于所述第一...

【技术特征摘要】

1.一种集光元件,应用于光电探测器,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的集光元件,其特征在于,多个所述非球面微结构(12)为相同大小的微结构,或多个所述非球面微结构(12)之间为等比例放大或缩小的微结构。

3.根据权利要求2所述的集光元件,其特征在于,位于所述第一平面(111)上的非球面微结构(12)的面型公式为:

4.根据权利要求3所述的集光元件,其特征在于,β的取值范围为[-15,15]。

5.根据权利要求1所述的集光元件,其特征在于,定义所述非球面微结构(12)在所述第一平面(111)上的出光面具有开口长度d,在垂直于所述第一平面(111)的高度方向上,所述非球面微结构(12)具有高度h,所述高度h与所述开口长度d的比值大于1。

6.根据权...

【专利技术属性】
技术研发人员:徐日民
申请(专利权)人:欧普照明股份有限公司
类型:新型
国别省市:

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