一种结合B图与P图进行结构分析与功能分析方法、设备、介质及产品技术

本申请公开了一种结合B图与P图进行结构分析与功能分析方法、设备、介质及产品，涉及设计失效模式及后果分析领域，该方法包括利用B图模块对产品结构进行分析，并确定外部对象，得到产品结构树；对产品结构树进行功能分析，触发P图模块；调用B图模块生成的产品结构树确定P图模块的输入；调用产品特性库或者新增P图模块的预期输出；调用噪声因素库、零件因素库、B图模块的外部对象、界面因素库或者新增P图模块的噪声因素；调用失效库或者新建P图模块的非预期输出；调用措施库或新增P图模块的控制因素；调用完成后，将生成的P图同步至产品结构树。本申请能够结合B图与P图进行结构分析与功能分析，提高失效分析的效率。

【技术实现步骤摘要】

本申请涉及设计失效模式及后果分析领域，特别是涉及一种结合b图与p图进行结构分析与功能分析方法、设备、介质及产品。

技术介绍

1、在fmea(failure mode andeffectsanalysis，失效模式及后果分析)分析时，可借助框图(b图)和p图，b图是表示一个系统各部分和各环节之间关系的图示，它的作用在于能够清晰地表达比较复杂的系统各部分之间的关系。p图(参数图)专注于功能的实现，可以清楚地识别该功能的所有影响因素，包括可以控制的因素(控制因素)和不能适当控制的因素(噪声因素)。

2、b图和p图一般是通过人工绘制或填写在excel表中，人工绘制和填写会造成效率低下，并且，两个图相互独立，而如何结合b图与p图进行结构分析与功能分析，并提高失效分析的效率，是现在亟待解决的问题。

技术实现思路

1、本申请的目的是提供一种结合b图与p图进行结构分析与功能分析方法、设备、介质及产品，能够结合b图与p图进行结构分析与功能分析，提高失效分析的效率。

2、为实现上述目的，本申请提供了如下方本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种结合B图与P图进行结构分析与功能分析方法，其特征在于，所述结合B图与P图进行结构分析与功能分析方法包括：

2.根据权利要求1所述的结合B图与P图进行结构分析与功能分析方法，其特征在于，所述利用B图模块对产品结构进行分析，确定外部对象，得到产品结构树，具体包括：

3.根据权利要求1所述的结合B图与P图进行结构分析与功能分析方法，其特征在于，所述调用噪声因素库、零件因素库、B图模块的外部对象、界面因素库或者新增P图模块的噪声因素，具体包括：

4.根据权利要求1所述的结合B图与P图进行结构分析与功能分析方法，其特征在于，调用完成后，将生成的P图同步至...

【技术特征摘要】

1.一种结合b图与p图进行结构分析与功能分析方法，其特征在于，所述结合b图与p图进行结构分析与功能分析方法包括：

2.根据权利要求1所述的结合b图与p图进行结构分析与功能分析方法，其特征在于，所述利用b图模块对产品结构进行分析，确定外部对象，得到产品结构树，具体包括：

3.根据权利要求1所述的结合b图与p图进行结构分析与功能分析方法，其特征在于，所述调用噪声因素库、零件因素库、b图模块的外部对象、界面因素库或者新增p图模块的噪声因素，具体包括：

4.根据权利要求1所述的结合b图与p图进行结构分析与功能分析方法，其特征在于，调用完成后，将生成的p图同步至产品结构树，具体包括：

5.根据权利要求4所述的结合b图与p图进行结构分析与功能分析方法，其特征在于，预防和探测措施的类型包括：现行预防措施、优化预防措施、现行探测措施以及优化探测措施。

6.根据...

【专利技术属性】
技术研发人员：曹旭峰，熊竹琴，姚永红，
申请(专利权)人：聪脉上海信息技术有限公司，
类型：发明
国别省市：