【技术实现步骤摘要】
本专利技术的实施例总体上涉光学领域，更具体地涉及一种用于测量目标对象的偏振特性的装置。
技术介绍
1、随着科技的发展，已经能够人工研制或者从自然界发现越来越多的具有新奇光学特性的材料。这些材料的偏振响应通常具有显著的角度(因而动量)依赖性。由于这些结构的本征光学性质可归结为其光子能带结构，因而对其进行频率-动量空间中的直接测量至关重要。为了表征其光学性质并将其应用于实际应用中，需要测量光学材料的光学特性。通常，通过使特定的光以特定的角度入射到光学材料，来测量光学材料的光学特性。然而，针对以上微纳光子材料，定角度入射难以对其在频率-动量空间中的特性进行表征，例如频率-动量空间中的偏振特性。
技术实现思路
1、本专利技术提供了一种用于测量目标对象的偏振特性的装置，能够准确并且高效地对偏转特性进行检测。
2、根据本专利技术的第一方面，提供了一种用于测量目标对象的偏振特性的装置。该装置包括：入射单元，被配置为依次生成多个偏振光，并且响应于生成所述多个偏振光中的当前偏振光，使所述当前偏振...
【技术保护点】
1.一种用于测量目标对象的偏振特性的装置，包括：
2.根据权利要求1所述的装置，其中所述目标对象包括微纳光子材料的样品，所述微纳光子材料的大小为微米级大小或纳米级大小，并且所述微纳光子材料具有周期性分布或非周期性分布。
3.根据权利要求1所述的装置，其中所述入射单元包括：
4.根据权利要求3所述的装置，其中强度测量单元包括：
5.根据权利要求4所述的装置，其中第一处理单元被配置为：
6.根据权利要求5所述的装置，其中所述光学参数包括：所述起偏器的穆勒矩阵、所述第一旋转补偿器的穆勒矩阵、所述检偏器的穆勒矩阵、所...
【技术特征摘要】
1.一种用于测量目标对象的偏振特性的装置，包括：
2.根据权利要求1所述的装置，其中所述目标对象包括微纳光子材料的样品，所述微纳光子材料的大小为微米级大小或纳米级大小，并且所述微纳光子材料具有周期性分布或非周期性分布。
3.根据权利要求1所述的装置，其中所述入射单元包括：
4.根据权利要求3所述的装置，其中强度测量单元包括：
5.根据权利要求4所述的装置，其中第一处理单元被配置为：
6.根据权利要求5所述的装置，其中所述光学参数包括：所述起偏器的穆勒矩阵、所述第一旋转补偿器的穆勒矩阵、所述检偏器的穆勒矩阵、所述第二旋转补偿器的穆勒矩阵、所述起偏器的透光轴的方位角、所述检偏器的透光轴的方位角、所述第一旋转补偿器的初始快轴方...
【专利技术属性】
技术研发人员：赵景怡，石磊，刘文哲，王佳俊，殷海玮，资剑，
申请(专利权)人：复旦大学，
类型：发明
国别省市：
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