【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及颗粒测量，尤其涉及一种同轴多光束多波长的正反傅立叶激光粒度仪及其测量方法。
技术介绍
1、激光粒度仪是一种基于激光衍射或散射原理来测量颗粒大小及其分布的仪器，广泛用于制药、化工、材料科学、食品和环境监测等领域，通过分析悬浮或干燥颗粒对激光的散射模式来计算粒径分布。其基本原理是通过分析激光与颗粒相互作用产生的散射光来推断颗粒的大小，激光波长的选择直接影响其颗粒检测范围。短波长激光通常为400nm～480nm，适合检测细颗粒，能够提供更高的分辨率，特别适用于亚微米级甚至纳米级颗粒的检测，能更敏感地捕捉细小颗粒的散射信号，减少颗粒的检测遗漏。长波长激光通常为630nm～1100nm，适合检测粗颗粒，能更好地解析微米级甚至毫米级的大颗粒，同时它在很多材料中不容易被吸收或散射，特别是在水或有机物中，长波长激光具有更好的穿透力，能够减少测量误差。
2、多数传统激光粒度仪采用单波长光源，通常是红光或近红外光源，虽然在检测较大颗粒时表现良好，但其局限性也十分明显。单波长激光在面对复杂的颗粒体系时，无法同时兼顾小颗粒和大颗粒的检...
【技术保护点】
1.一种同轴多光束多波长的正反傅立叶激光粒度仪，其特征在于，包括合束器（2）、第一傅里叶镜头（3）、二向色镜（6）、第二激光器（8）、第二傅里叶镜头（7）、样品窗（4）、前向探测器（10）、侧向探测器（9）、后向探测器（5）及多个第一激光器（1）；
2.根据权利要求1所述的一种同轴多光束多波长的正反傅立叶激光粒度仪，其特征在于，所述第一激光器（1）可选择在波长400-1100nm的光纤激光器，其激光波长分别为短、中、长，数量最多可达10个。
3.根据权利要求1所述的一种同轴多光束多波长的正反傅立叶激光粒度仪，其特征在于，所述前向探测器（10）、...
【技术特征摘要】
1.一种同轴多光束多波长的正反傅立叶激光粒度仪，其特征在于，包括合束器（2）、第一傅里叶镜头（3）、二向色镜（6）、第二激光器（8）、第二傅里叶镜头（7）、样品窗（4）、前向探测器（10）、侧向探测器（9）、后向探测器（5）及多个第一激光器（1）；
2.根据权利要求1所述的一种同轴多光束多波长的正反傅立叶激光粒度仪，其特征在于，所述第一激光器（1）可选择在波长400-1100nm的光纤激光器，其激光波长分别为短、中、长，数量最多可达10个。
3.根据权利要求1所述的一种同轴多...
【专利技术属性】
技术研发人员：王成亮，于代君，
申请(专利权)人：山东耐克特分析仪器有限公司，
类型：发明
国别省市：
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