一种交叉滚子导轨型面几何参数测量仪制造技术

技术编号:45825853 阅读:19 留言:0更新日期:2025-07-15 22:34
一种交叉滚子导轨型面几何参数测量仪,包括回转台机构、被测导轨、被测导轨夹紧机构、Z运动轴结构以及X运动轴结构;所述回转台机构用于带动被测导轨旋转;所述被测导轨夹紧机构用于将被测导轨夹紧在回转台机构上;所述Z运动轴结构用于实现整体测量装置的升降动作,即Z轴的往返运动;所述X运动轴结构用于将激光位移传感器调整到合适的位置,即X轴的往返运动;被测导轨夹紧机构固定在回转台机构,回转台机构通过外壳固定在工作平台,X运动轴结构通过支架装置与Z运动轴连接,Z运动轴通过外壳固定在工作平台,回转台机构与Z运动轴、X运动轴配合实现导轨的几何测量。本技术能提升装夹效率,可实现批量化检测。

【技术实现步骤摘要】

本技术属于导轨型面几何参数测量,具体涉及一种交叉滚子导轨型面几何参数测量仪


技术介绍

1、随着数控机床向高速化、精密化方向发展,这对作为机床基础功能部件之一的交叉滚子导轨提出更高的要求。交叉滚子导轨具有高精度、高刚性和高速性能等特点,能够显著提高数控机床的加工精度和生产效率。特别是在精密加工中心、数控铣床和数控车床等设备中,交叉滚子导轨的应用可以大大提高机床的加工精度和稳定性,保证零件的加工质量。而交叉滚子导轨的型面几何参数影响着导轨的精度和刚性,以及影响着交叉滚子导轨能否被应用于半导体设备、工业机器人、医疗设备和航空航天等领域中,取决于导轨型面几何参数是否达到要求。

2、由于该导轨测量要素过多且精度要求高,而目前的测量方式依然是采用球头的齿轮千分尺进行批量测量,这种方法费时费力,难以实现对诸多测量要素通过一次检测从而得到测量结果并且批量化检测不易实现。


技术实现思路

1、为了克服以上现有技术存在问题,本技术的目的在于提供一种交叉滚子导轨型面几何参数测量仪,该测量仪通过测头运动机构x轴和z轴的直本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种交叉滚子导轨型面几何参数测量仪,其特征在于,包括回转台机构、被测导轨、被测导轨夹紧机构、Z运动轴结构以及X运动轴结构;

2.根据权利要求1所述的一种交叉滚子导轨型面几何参数测量仪,其特征在于,所述回转台机构包括电机二(12),电机二(12)的输出轴上设置小齿轮一(13),小齿轮一(13)与大齿轮(14)啮合,大齿轮(14)安装在蜗杆轴(15)上,所述蜗杆轴(15)中间位置啮合涡轮(17),位于蜗杆轴(15)两端分别安装轴承座一(18)、轴承座二(19),所述涡轮(17)通过转台(20)与下转盘(3)连接。

3.根据权利要求2所述的一种交叉滚子导轨型面几何参...

【技术特征摘要】

1.一种交叉滚子导轨型面几何参数测量仪,其特征在于,包括回转台机构、被测导轨、被测导轨夹紧机构、z运动轴结构以及x运动轴结构;

2.根据权利要求1所述的一种交叉滚子导轨型面几何参数测量仪,其特征在于,所述回转台机构包括电机二(12),电机二(12)的输出轴上设置小齿轮一(13),小齿轮一(13)与大齿轮(14)啮合,大齿轮(14)安装在蜗杆轴(15)上,所述蜗杆轴(15)中间位置啮合涡轮(17),位于蜗杆轴(15)两端分别安装轴承座一(18)、轴承座二(19),所述涡轮(17)通过转台(20)与下转盘(3)连接。

3.根据权利要求2所述的一种交叉滚子导轨型面几何参数测量仪,其特征在于,所述回转台机构整体布置在壳体(11)上,壳体(11)固定工作平台(4)上,所述电机二(12)通过支架一(21)安装在保护罩(22)上,转台(20)为阶梯圆柱体。

4.根据权利要求3所述的一种交叉滚子导轨型面几何参数测量仪,其特征在于,所述被测导轨夹紧机构整体布置在下转盘(3)上,被测导轨夹紧机构包括升降齿条(46),升降齿条(46)通过后侧的导轨与外壳(45)内侧的导轨相连,外壳(45)固定在下转盘(3)上,外壳(45)安装在下转盘(3)上,下转盘(3)通过螺栓连接阶梯圆柱转台(20)的上端,位于外壳(45)与下转盘(3)连接位置安装轴承座五(38),轴承座五(38)上设置导轨定位块(52)、定位块(53)、升降齿条(46),导轨定位块(52)装在上端,上圆盘(48)、定位块(53)与导轨定位块(52)平行布置,轴承座五(38)末端为一个矩形键(47),锁紧夹块(39)固定在轴承座五(38)上,锁紧夹块(39)用于被测导轨z向齿轮齿条升降过程中的锁紧,位于下转盘(3)中心对称布置导向装置光轴一(41)、导向装置光轴二(42),导向装置光轴一(41)、导向装置光轴二(42)下端...

【专利技术属性】
技术研发人员:李海涛杨宇恒王雅雯张凯郭鑫磊荆晓宁李晗宜成功张西平
申请(专利权)人:陕西科技大学
类型:新型
国别省市:

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