集中式存储性能评估方法、装置及电子设备制造方法及图纸

技术编号:45746711 阅读:12 留言:0更新日期:2025-07-08 21:38
本公开提供了一种集中式存储性能评估方法、装置及电子设备,涉及计算机技术领域,通过先分析待评估集中式存储系统在目标部署环境下的性能影响因素集合以及性能影响因素集合中至少一个性能影响因素对应的性能影响值,得到待评估集中式存储系统在目标部署环境下的性能影响数据;之后在性能样本库中匹配到性能影响数据对应的目标部署环境样本的情况下,根据目标部署环境样本对应的目标系统运行性能数据,确定待评估集中式存储系统在目标部署环境下的性能评估结果,因此,可以解决存储产品性能基线与客户实际部署环境可能存在较大差异,导致性能预测存在较大误差,无法提供准确的性能参考的技术问题,可以提高集中式存储性能评估的准确性。

【技术实现步骤摘要】

本公开涉及计算机,尤其涉及一种集中式存储性能评估方法、装置及电子设备


技术介绍

1、集中式存储系统的性能评估对系统性能优化、保障业务连续性、确保数据安全、支持技术维护等方面至关重要。一种高效可靠的性能评估方法不仅可以进一步确认集中式存储系统是否满足客户业务的要求,同时也可以作为存储方案项目交付的重要指标,协助排查交付实施问题。相关技术中,通过根据集中式存储系统的存储产品性能基线提供性能预测,但是存储产品性能基线与客户实际部署环境可能存在较大差异,导致性能预测存在较大误差,无法提供准确的性能参考。


技术实现思路

1、本公开提供了一种集中式存储性能评估方法、装置及电子设备。其主要目的在于解决集中式存储性能评估的准确性较低的问题。

2、根据本公开的第一方面,提供了一种集中式存储性能评估方法,包括:

3、确定待评估集中式存储系统在目标部署环境下的性能影响数据,其中,性能影响数据中包括性能影响因素集合以及性能影响因素集合中至少一个性能影响因素对应的性能影响值;

4、在性能样本库中匹本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种集中式存储性能评估方法,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述确定待评估集中式存储系统在目标部署环境下的性能影响数据,包括:

3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述对所述配置层面性能影响因素集合进行定量分析,得到所述配置层面性能影响因素集合中至少一个配置层面性能影响因素对应的性能影响值,包括:

4.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述在性能样本库中匹配所述性能影响数据,包括:

5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述将所述样本性能影响数据集合与所述配置层面性能影响因素集合以及所述配置层...

【技术特征摘要】

1.一种集中式存储性能评估方法,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述确定待评估集中式存储系统在目标部署环境下的性能影响数据,包括:

3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述对所述配置层面性能影响因素集合进行定量分析,得到所述配置层面性能影响因素集合中至少一个配置层面性能影响因素对应的性能影响值,包括:

4.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述在性能样本库中匹配所述性能影响数据,包括:

5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述将所述样本性能影响数据集合与所述配置层面性能影响因素集合以及所述配置层面性能影响因素集合中至少一...

【专利技术属性】
技术研发人员:刘丹
申请(专利权)人:苏州元脑智能科技有限公司
类型:发明
国别省市:

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