【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及电数据处理，尤其涉及基于加速寿命模型的电力电子元件可靠性预测方法。
技术介绍
1、随着电力电子设备在工业、交通、医疗等领域的广泛应用，其可靠性问题越来越受到重视，传统的电力电子元件可靠性分析多基于统计模型，如指数分布和威布尔分布去描述元件的失效率与时间的关系，由于电力电子元件的寿命往往很长，直接进行寿命试验不现实。加速寿命试验通过提高应力水平（如温度、电压等）来加速元件的失效过程，从而在较短时间内获得可靠性信息。
2、现有的应力-寿命（stress-life，s-n）模型通过建立应力水平与寿命之间的关系来实现可靠性预测，现有的多物理场耦合分析通过综合考虑热、电、磁等多方面因素对元件可靠性的影响。
3、例如公开号为：cn116029234a的专利技术专利公开的一种漏电信号调理电路寿命预测方法，包括：以漏电信号调理电路作为研究对象，首先通过灵敏度分析得出影响电路整体输出性能的关键元器件，利用monte-carlo法分析元器件的容差对漏电信号调理电路性能的影响，得出元器件容差越小、精度越高，电路运行可靠度...
【技术保护点】
1.基于加速寿命模型的电力电子元件可靠性预测方法，其特征在于，包括以下步骤：
2.如权利要求1所述基于加速寿命模型的电力电子元件可靠性预测方法，其特征在于，所述对电力电子元件样品进行加速寿命实验的具体流程为：
3.如权利要求1所述基于加速寿命模型的电力电子元件可靠性预测方法，其特征在于，所述通过统计分析方法对加速寿命实验相关数据进行构模的具体构模过程为：
4.如权利要求1所述基于加速寿命模型的电力电子元件可靠性预测方法，其特征在于，所述对电力电子元件寿命质量预测的环境加速应力相关数据、电力电子元件寿命质量预测的机械加速应力相关数据和...
【技术特征摘要】
1.基于加速寿命模型的电力电子元件可靠性预测方法，其特征在于，包括以下步骤：
2.如权利要求1所述基于加速寿命模型的电力电子元件可靠性预测方法，其特征在于，所述对电力电子元件样品进行加速寿命实验的具体流程为：
3.如权利要求1所述基于加速寿命模型的电力电子元件可靠性预测方法，其特征在于，所述通过统计分析方法对加速寿命实验相关数据进行构模的具体构模过程为：
4.如权利要求1所述基于加速寿命模型的电力电子元件可靠性预测方法，其特征在于，所述对电力电子元件寿命质量预测的环境加速应力相关数据、电力电子元件寿命质量预测的机械加速应力相关数据和加速寿命实验相关数据进行预处理的具体流程为：
5.如权利要求1所述基于加速寿命模型的电力电子元件可靠性预测方法，其特征在于，所述对电力电子元件寿命质量预测的环境加速应力相关数据进行分析的具体分析过程为：
6.如权利要求1所述基于加速寿命模型的电力电子元件可靠性...
【专利技术属性】
技术研发人员：孔亮，张恒，杨瑞祥，葛珊，
申请(专利权)人：青岛中微创芯电子有限公司，
类型：发明
国别省市：
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