高光谱和可见光成像融合的光学系统及方法技术方案

本发明专利技术公开了一种高光谱和可见光成像融合的光学系统及方法，涉及光学成像技术领域，其中，高光谱和可见光成像融合的光学系统包括成像镜组、分光结构、高光谱传感器以及可见光传感器，分光结构具有位于中部的透光区域以及位于所述透光区域外围的反射区域，其中透光区域用于供部分光线直接穿过，反射区域用于反射部分可见光波段的光线，高光谱传感器用于接收穿过透光区域的光线，并生成高光谱图像，可见光传感器用于接收经反射区域反射的光线，并生成可见光图像，两者的视场角相等，且成像面的像素位置一一对应，以能够实现高光谱图像与可见光图像的物理级像素对准。本方案提高了多光谱图像融合的效率，降低了成像过程中能量的损耗。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及光学成像，特别涉及一种高光谱和可见光成像融合的光学系统及方法。

技术介绍

1、高光谱传感器将成像技术与光谱技术相结合，探测目标的二维几何空间及一维光谱信息，具有较高的光谱分辨率特性，可得到高光谱分辨率的连续、窄波段的图像数据。高光谱图像能够很好地反映不同材料的特性，被广泛应用于食品安全、医学诊断、遥感、农业和地质勘探和考古学等领域。高光谱图像的光谱波段丰富，但其空间分辨率相对较低，限制了其进一步的应用。可见光传感器空间分辨率非常高，但其光谱分辨率较低(r/g/b)，若能将同一场景下拍摄的高光谱图像与可见光图像进行融合，使用高光谱图像信息辅助增强可见光图像，这对于光学成像
具有重要意义。

2、然而，目前的多光谱图像融合技术大多采用分时拍摄或离轴光学设计来获取不同种类图像，光路分离导致图像配准出现误差，需要复杂的后处理算法与处理器进行图像校正对齐，效率低、误差大，并且一般采用半反半透镜，导致传感器的进光量较低。

技术实现思路

1、本专利技术的主要目的是提出一种高光谱和可见光成像融合本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种高光谱和可见光成像融合的光学系统，其特征在于，包括：

2.如权利要求1所述的高光谱和可见光成像融合的光学系统，其特征在于，所述透光区域的透射光谱范围在400nm至2500nm之间，所述反射区域的反射光谱范围在400nm至700nm之间。

3.如权利要求1所述的高光谱和可见光成像融合的光学系统，其特征在于，所述高光谱传感器的像元尺寸在2μm至16μm之间，所述高光谱传感器的光谱范围在400nm至2500nm之间，所述高光谱传感器的空间分辨率范围在640×480至1920×1080之间；

4.如权利要求1所述的高光谱和可见光成像融合的光学系统，其特...

【技术特征摘要】

1.一种高光谱和可见光成像融合的光学系统，其特征在于，包括：

2.如权利要求1所述的高光谱和可见光成像融合的光学系统，其特征在于，所述透光区域的透射光谱范围在400nm至2500nm之间，所述反射区域的反射光谱范围在400nm至700nm之间。

3.如权利要求1所述的高光谱和可见光成像融合的光学系统，其特征在于，所述高光谱传感器的像元尺寸在2μm至16μm之间，所述高光谱传感器的光谱范围在400nm至2500nm之间，所述高光谱传感器的空间分辨率范围在640×480至1920×1080之间；

4.如权利要求1所述的高光谱和可见光成像融合的光学系统，其特征在于，所述高光谱传感器包括扫描式高光谱相机和快照式高光谱相机中的一种。

5.如权利要求1所述的高光谱和可见光成像融合的光学系统，其...

【专利技术属性】
技术研发人员：龚俊强，肖明志，刘冬，李锐豪，
申请(专利权)人：中山联合光电科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：