【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种键盘装置及触键信息的检测方法，尤其涉及一种可精度良好地检测触键信息的键盘装置及触键信息的检测方法。
技术介绍
1、已知有一种利用非接触式的传感器对触键的深度或速度等(以下称为“触键信息”)进行检测的技术。例如在专利文献1中，记载了一种在基板56形成产生磁场的线圈57(传感器)、另一方面将与线圈57对向的金属板55(被检测部)固定在键41的技术。根据所述技术，由于线圈57中流动的电流(磁场)会因触键时的金属板55相对于线圈57的相对移位而发生变化，因此可基于所述电流的变化来检测触键信息。
2、关于此种键盘装置，本申请的提出人对图12所示的专利技术进行了专利申请(在本申请提出时，为未公开的专利文献2)。图12是现有的键盘装置301的剖面图。
3、如图12所示，现有技术的键盘装置301中，使能够旋转地被支撑在保持器10的移位构件207(被检测零件)与键202的摆动联动。在移位构件207的下表面设置有非磁性金属制的被检测部208，伴随触键或离键时的键202的摆动，被检测部208向与线圈90对向的区域的侵...
【技术保护点】
1.一种键盘装置，其特征在于，包括：第一支撑构件；多个键，能够摆动地被支撑在所述第一支撑构件，且沿音阶方向排列；移位构件，与所述键的摆动联动；第二支撑构件，对所述移位构件以能够移位的方式进行支撑，且安装在所述第一支撑构件；以及传感器，与所述移位构件的被检测部对向地检测所述移位构件的移位。
2.根据权利要求1所述的键盘装置，其特征在于，包括基板，所述基板设置有所述传感器，且被支撑在所述第一支撑构件。
3.根据权利要求2所述的键盘装置，其特征在于，所述基板安装在所述第二支撑构件。
4.根据权利要求3所述的键盘装置，其特征在于，所述第二支...
【技术特征摘要】
1.一种键盘装置，其特征在于，包括：第一支撑构件；多个键，能够摆动地被支撑在所述第一支撑构件，且沿音阶方向排列；移位构件，与所述键的摆动联动；第二支撑构件，对所述移位构件以能够移位的方式进行支撑，且安装在所述第一支撑构件；以及传感器，与所述移位构件的被检测部对向地检测所述移位构件的移位。
2.根据权利要求1所述的键盘装置，其特征在于，包括基板，所述基板设置有所述传感器，且被支撑在所述第一支撑构件。
3.根据权利要求2所述的键盘装置，其特征在于，所述基板安装在所述第二支撑构件。
4.根据权利要求3所述的键盘装置，其特征在于，所述第二支撑构件包括供所述基板的一端插入的插入部，
5.根据权利要求3所述的键盘装置，其特征在于，包括固定构件，所述固定构件安装在所述第一支撑构件，且将所述基板的另一端固定，
6.根据权利要求5所述的键盘装置，其特征在于，包括沿所述音阶方向排列的多个所述固定构件。
7.根据权利要求5所述的键盘装置，其特征在于，包括第三支撑构件，所述第三支撑构件安装在所述第...
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。