【技术实现步骤摘要】
本技术涉及测长仪校准领域,具体为一种测长仪yz轴校准检具。
技术介绍
1、测长仪是一种多用途的高精度计量标准,用于测量各种精密零部件以及量规和量具的检定,是计量校准实验室和精密测量车间的必备仪器。为了使测长仪实现更多种类的校准,满足更加广泛的测量需求,新型测长仪在原有实现x轴测量基础上,有些还配备了具有光栅尺的z轴或y轴指示,使得测长仪从一维测量(x轴)逐渐演变发展为二维(xz轴)或三维(xyz轴)的测量,并采用自动控制,进一步拓展了测长仪的可测被测件种类。
2、经查阅文献,现有的计量技术规范,主要对测长仪的x轴示值误差的计量校准方法做出了规定,针对当前高精密二维或三维测长仪z(y)轴的指示示值的误差测量方法,尚无提及相应方案,使得这种具有多维指示的仪器量值准确溯源成为空白,影响了生产商指标准确性的确认和仪器用户使用中对精度的掌控。
技术实现思路
1、本技术为解决现有测长仪的y/z轴位移指示无法准确校准的问题,提供一种方便易用的测长仪yz轴校准检具。
2、本技术所述
...【技术保护点】
1.一种测长仪YZ轴校准检具,其特征在于:包括一个呈“n”型的结构体;所述“n”型的结构体由左右两个侧边以及连接左右两个侧边的顶面组成;左右两个侧边各水平开有一个沿左右走向且同轴的通孔,作为该检具的基准孔(31);顶面开有一个竖直走向的顶面通孔(32)。
2.如权利要求1所述的一种测长仪YZ轴校准检具,其特征在于,左右侧边以及顶面上分别开有与各自通孔对应的锁紧孔(33),其中左右侧边的锁紧孔(33)配有用于将检具固定于测长仪的测量座测柱(1)和尾座测柱(4)时的锁紧螺钉;顶面的锁紧孔(33)配有固定标准测微仪(2)的锁紧螺钉。
【技术特征摘要】
1.一种测长仪yz轴校准检具,其特征在于:包括一个呈“n”型的结构体;所述“n”型的结构体由左右两个侧边以及连接左右两个侧边的顶面组成;左右两个侧边各水平开有一个沿左右走向且同轴的通孔,作为该检具的基准孔(31);顶面开有一个竖直走向的顶面通孔(32)。
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【专利技术属性】
技术研发人员:晏浩,张益恺,黄兴,岩君芳,高巍,史超星,王雨婷,
申请(专利权)人:山西省检验检测中心山西省标准计量技术研究院,
类型:新型
国别省市:
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