基于半逆问题求解的EIT成像系统、成像方法、存储介质技术方案

本发明专利技术提出了一种基于半逆问题求解的EIT成像系统、成像方法、存储介质，属于医学成像领域，其技术要点在于：所述存储模块用于存储边界电压(差)矩阵；所述第一求解模块建立了边界电压(差)矩阵到内部电势(差)矩阵的映射关系；所述第二求解模块建立了内部电势(差)矩阵到节点电导率(差)矩阵的映射关系。采样本申请的技术方案，可以将全逆问题求解转换为半逆问题求解，提高了节点电导率(差)的求解精度(能够提高对异常电极信号的容错能力)，适用于待测场域为非规则图形时的EIT成像，可以提高脑部、肺部、腹部等组织的EIT成像精度。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于医学成像及深度学习这一，具体涉及一种基于半逆问题求解的eit成像系统、成像方法、存储介质。

技术介绍

1、eit(electrical impedance tomography，电阻抗断层扫描成像)是一种新型的电学检测技术，具有低成本、无辐射、非侵入性、实时监测的优点，十分适用于医学成像和生物研究。

2、对于eit成像而言，其技术难点在于：如何将待测场域获取边界电压差数据求取得到相对电导率矩阵。

3、对于上述问题，主要有两种技术路线：

4、第一种技术路线：公式法。如cn115177234b：σ＝(snormtsnorm+kti+knd)-1snormt△vnormt。首先通过利用先验知识得到的归一化灵敏度矩阵snorm，然后在利用上式直接求解相对电导率矩阵σ。这一方法的优点是：成像速度快。其缺点是：这种方法依赖于snorm的准确性。其适合于待测场域为规则图形(如乳腺)的检测成像上。当待测场域为非规则图形时，其成像效果不佳。

5、第二种技术路线：神经网络。如cn109598768a，常见的神经模型本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种基于半逆问题求解的EIT成像系统，其特征在于，包括：存储模块、第一求解模块、第二求解模块；

2.根据权利要求1所述的EIT成像系统，其特征在于，第一求解模块、第二求解模块均为神经网络构建的求解模块。

3.根据权利要求2所述的EIT成像系统，其特征在于，所述第一求解模块的输入层为待测场域的边界电压矩阵，输出层为待测场域的有限元模型的网络节点对应的内部电势矩阵；

4.一种基于半逆问题求解的EIT成像方法，用于绝对成像时，其特征在于，包括如下步骤：

5.如权利要求4所述的一种基于半逆问题求解的EIT成像方法，其特征在于，第二求解模块的损失...

【技术特征摘要】

1.一种基于半逆问题求解的eit成像系统，其特征在于，包括：存储模块、第一求解模块、第二求解模块；

2.根据权利要求1所述的eit成像系统，其特征在于，第一求解模块、第二求解模块均为神经网络构建的求解模块。

3.根据权利要求2所述的eit成像系统，其特征在于，所述第一求解模块的输入层为待测场域的边界电压矩阵，输出层为待测场域的有限元模型的网络节点对应的内部电势矩阵；

4.一种基于半逆问题求解的eit成像方法，用于绝对成像时，其特征在于，包括如下步骤：

5.如权利要求4所述的一种基于半逆问题求解的eit成像方法，其...

【专利技术属性】
技术研发人员：姚佳烽，赵尉杰，梁晋铭，王昊，田和，刘凯，
申请(专利权)人：暨南大学，
类型：发明
国别省市：