【技术实现步骤摘要】
本技术涉及芯片，具体为一种可用于多规格芯片检测用的检测装置。
技术介绍
1、一种可用于多规格芯片检测用的检测装置只要是指放置芯片的治具，而芯片治具是一种专门用于定位、支撑和保护芯片的夹具，确保芯片在加工、测试或焊接过程中的精确度和安全性，芯片治具也被称为基座或托盘，是半导体制造和电子装配领域中常用的工具；
2、在现有的技术体系中，为了适应不同规格芯片的制造和检测需求，治具的设计往往需要具备高度的适应性，然而，传统的治具定位块通常采用固定设计，无法根据芯片规格的变化进行位置调节，这种设计在应对多样化生产需求时存在较大的局限性，不仅增加了生产成本，还可能影响生产效率和芯片的质量，首先，传统治具的固定设计限制了其在面对不同规格芯片时的灵活性，由于定位块的位置无法调整，当需要处理不同尺寸或形状的芯片时，可能需要更换整个治具或者重新设计新的治具。这不仅耗费时间和资源，还可能导致生产线的停滞，影响生产的连续性和效率。
技术实现思路
1、本技术的目的在于提供一种可用于多规格芯片检测用的检测装...
【技术保护点】
1.一种可用于多规格芯片检测用的检测装置，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的一种可用于多规格芯片检测用的检测装置，其特征在于，所述安装组件（2）包括第二定位块（203），所述第二定位块（203）滑动连接在第一定位块（202）外侧的治具（201）顶部。
3.根据权利要求1所述的一种可用于多规格芯片检测用的检测装置，其特征在于，所述调节组件（3）包括第二磁铁（303），所述第二磁铁（303）磁吸连接在第一磁铁（302）的顶端，所述第二磁铁（303）的顶端固定有连接柱（304），所述连接柱（304）的顶端分别与第一定位块（202）和第二定位...
【技术特征摘要】
1.一种可用于多规格芯片检测用的检测装置，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的一种可用于多规格芯片检测用的检测装置，其特征在于，所述安装组件（2）包括第二定位块（203），所述第二定位块（203）滑动连接在第一定位块（202）外侧的治具（201）顶部。
3.根据权利要求1所述的一种可用于多规格芯片检测用的检测装置，其特征在于，所述调节组件（3）包括第二磁铁（303），所述第二磁铁（303）磁吸连接在第一磁铁（302）的顶端，所述第二磁铁（303）的顶端固定有连接柱（304），所述连接柱（304）的顶端分别与第一定位块（202）和第二定位块（203）的底端连接。
4.根据权利要求3所述的一种可用于多规格芯片检测用的检测装置，其特征在于，所述滑动槽（301）...
【专利技术属性】
技术研发人员：张洪培，林育正，
申请(专利权)人：福立旺精密机电中国股份有限公司，
类型：新型
国别省市：
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