【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及使用纳米颗粒跟踪分析来表征颗粒的装置和方法。
技术介绍
1、纳米颗粒跟踪分析(nta)是一种通过跟踪各个颗粒的移动并基于其布朗运动确定颗粒大小来表征悬浮在流体中的颗粒的方法。通常，该方法包括照射包含悬浮在流体中的多个颗粒的样品，收集由颗粒散射或发出荧光的光，并在颗粒在流体中移动时捕获其视频。流体可以是液体(例如水或一些其他液体)，或者可以是气体(例如空气)。逐帧分析视频以跟踪颗粒的移动。确定视频的帧之间由布朗运动引起的颗粒位移，并且该颗粒位移用于使用菲克第二扩散定律和斯托克斯-爱因斯坦方程来确定颗粒的大小。
2、在nta期间，期望提供样品的流动。这可以提高测量的准确性，因为更多的样品被移动通过用于进行分析的装置的检测区，并且测量不太可能被异常所主导。非常大或非常小的颗粒或污染物将被样品的流动从视频的视野中扫走。然而，提供流动在精确跟踪颗粒和确定颗粒位移的比例方面存在问题，颗粒位移是样品流动的结果，部分是布朗运动的结果。随着样品流速和浓度的增加，这些问题变得更加严重。随着样品流速或浓度的增加，也可能难以确定颗粒跟...
【技术保护点】
1.一种使用纳米颗粒跟踪分析来表征颗粒的装置，包括：
2.根据权利要求1所述的装置，其中所述一维颗粒跟踪包括在所述视频的后续帧中识别来自所述视频的当前帧的颗粒。
3.根据权利要求2所述的装置，其中，识别所述视频的所述后续帧中的所述颗粒包括在跟踪方向上识别所述后续帧中最近的颗粒。
4.根据权利要求3所述的装置，其中，识别所述后续帧中最近的颗粒包括识别一维跟踪距离限制内的最近的颗粒。
5.根据前述权利要求中任一项所述的装置，其中，所述估算流速是根据由所述一维颗粒跟踪所跟踪的一个或多个颗粒在所述视频的后续帧之间移动的平均距离来
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】
1.一种使用纳米颗粒跟踪分析来表征颗粒的装置，包括：
2.根据权利要求1所述的装置，其中所述一维颗粒跟踪包括在所述视频的后续帧中识别来自所述视频的当前帧的颗粒。
3.根据权利要求2所述的装置，其中，识别所述视频的所述后续帧中的所述颗粒包括在跟踪方向上识别所述后续帧中最近的颗粒。
4.根据权利要求3所述的装置，其中，识别所述后续帧中最近的颗粒包括识别一维跟踪距离限制内的最近的颗粒。
5.根据前述权利要求中任一项所述的装置，其中，所述估算流速是根据由所述一维颗粒跟踪所跟踪的一个或多个颗粒在所述视频的后续帧之间移动的平均距离来确定的。
6.根据权利要求5所述的装置，其中所述平均距离是中值距离。
7.根据前述权利要求中任一项所述的装置，其中所述计算机被配置为：
8.根据权利要求7所述的装置，其中所述计算机被配置为确定每个颗粒的残差校正轨迹，包括对所述颗粒的校正位置的二维颗粒跟踪进行校正以去除残差流速。
9.根据权利要求8所述的装置，其中所述计算机被配置为根据所述颗粒在从所述残差校正轨迹获得的所述视频的后续帧之间移动的平均距离来确定每个颗粒的粒度。...
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