一种测量绝对位置的系统技术方案

技术编号:45568359 阅读:20 留言:0更新日期:2025-06-17 18:34
本申请提供一种测量绝对位置的系统,包括:只有一对N‑S极的条形磁轨,具有磁阻R<subgt;1</subgt;、R<subgt;2</subgt;、R<subgt;3</subgt;、R<subgt;4</subgt;的磁头以及计算模块。所述条形磁轨的N极和S极整体构成一个长方形、且两者之间的直线分界线既不平行、也不垂直该条形磁轨。磁阻R<subgt;1</subgt;、R<subgt;2</subgt;、R<subgt;3</subgt;、R<subgt;4</subgt;灵敏方向相同、均平行或垂直于该条形磁轨,等间隔分布于所述条形磁轨的宽度方向(垂直于该条形磁轨)。所述计算模块则根据磁阻R<subgt;1</subgt;、R<subgt;2</subgt;、R<subgt;3</subgt;、R<subgt;4</subgt;的感测信号得到磁头正对条形磁轨的绝对位置。本申请提供的技术方案利用单一磁轨检测绝对位置,无需测量同一位置点的不同方向的磁场分量(不同磁阻放置同一空间点实际不可行),在缩小绝对位置测量系统尺寸的基础上有效提高了测量精度。

【技术实现步骤摘要】

本申请提供的技术方案涉及位置或磁场的测量/感测领域,具体涉及一种利用磁场感测技术测量绝对位置的系统


技术介绍

1、随着现代科技的发展和自动化水平的提高,在航空航天、机械制造、高精度数控机床等控制领域需要大量使用能够真实可靠的反映被测对象位置或位移的感测子系统。在电子设备或者精密机械中集成的位置或位移感测系统,通常需要体积小、重量轻、响应速度快,受测量环境因素(例如温度,粉尘,光线,电磁干扰等)影响低。能够在测量系统启动、以及工作过程的任何时间点,都能及时知道目标相对于参考点的位置。

2、磁场测量定位是一种基于空间磁场分布特征或人工磁场源实现位置感知的技术。其核心原理是通过磁传感器检测环境中的静态或动态磁场信号,结合磁场模型或指纹数据库,解算目标的位置和方向。与光学、射频定位系统相比,基于磁场的测量定位系统由于对测量环境中的温度、粉尘、光线等因素不敏感,而电磁干扰也可以采用冗余磁阻配合电性连接关系进行抵消,大量应用于高精度、高稳定性测量要求的场合。

3、磁栅传感系统是一种基于磁阻效应进行位移测量的位移传感系统,它可以利用磁栅与磁头之本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种测量绝对位置的系统,其特征在于,所述系统包括:条形磁轨,磁头;

2.如权利要求1所述的系统,其特征在于,所述系统还包括计算模块;所述计算模块基于所述磁阻R1、R2、R3、R4构成的两路感测半桥的输出信号计算当前磁头正对于所述条形磁轨的绝对位置。

3.如权利要求2所述的系统,其特征在于,磁阻R2、R3的位置关于所述条形磁轨平行于X轴方向的中心轴对称。

4.如权利要求2或3所述的系统,其特征在于,磁阻R1、R4分别构成第一路感测半桥的两个桥臂,磁阻R1、R4中间引出第一输出信号V1;磁阻R2、R3分别构成另一路感测半桥的两个桥臂,磁阻R2、R3中间...

【技术特征摘要】

1.一种测量绝对位置的系统,其特征在于,所述系统包括:条形磁轨,磁头;

2.如权利要求1所述的系统,其特征在于,所述系统还包括计算模块;所述计算模块基于所述磁阻r1、r2、r3、r4构成的两路感测半桥的输出信号计算当前磁头正对于所述条形磁轨的绝对位置。

3.如权利要求2所述的系统,其特征在于,磁阻r2、r3的位置关于所述条形磁轨平行于x轴方向的中心轴对称。

4.如权利要求2或3所述的系统,其特征在于,磁阻r1、r4分别构成第一路感测半桥的两个桥臂,磁阻r1、r4中间引出第一输出信号v1;磁阻r2、r3分别构成另一路感测半桥的两个桥臂,磁阻r2、r3中间引出第二输出信号v2。

5.如权利要求2或3所述的系统,其特征在于,磁阻r1、r2、r3、r4的灵敏方向均平行或反平行于y轴方向;磁阻r1、r3分别构成第一路感测半桥的两个桥臂,从磁阻r1、r3中间引出第一输出信号v1;磁阻r2...

【专利技术属性】
技术研发人员:刘劲峰宋晨薛松生郭海平
申请(专利权)人:江苏多维科技有限公司
类型:发明
国别省市:

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