一种表面波纹度光学检测系统技术方案

技术编号:45549540 阅读:32 留言:0更新日期:2025-06-17 18:22
本发明专利技术提供了一种表面波纹度光学检测系统,属于智能光学检测领域,系统包括光学检测站、检测载台线和处理器,光学检测站包括设置在检测架上的采集器模块和检测光源模块,检测光源模块朝向下方检测载台线上的显示屏表面投射波长可调检测光,采集器模块采显示屏的反射光和散射光,处理器接收光信号并基于相位分析获取显示屏的表面波纹度。通过本申请的非接触式光学检测方案,降低对产品的机械伤害,并可精准获取显示屏的表面波纹度,可满足显示屏及表面涂层的各类表面波纹度的非接触高精度检测,为产品可靠性评估提供关键数据,确保了折叠屏的合格率。便于在手机、平板、笔记本等3C领域涉及膜片的场景推广应用。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于智能光学检测领域,具体涉及一种表面波纹度光学检测系统


技术介绍

1、随着技术的发展,对3c产品(计算机类、通信类和消费类电子产品)的显示屏的制造精度和要求越来越高。目前折叠屏手机越来越受大众消费者熟知和接受,而对于折叠屏的质量,尤其是折叠屏表面波纹度(waveness或waviness)的检测是一种重要检测指标。

2、传统的波纹度检测,如申请人已有的检测装置,参见专利cn112945977b和cn112816488b,都是采用表面喷水雾的方法,以适应纳米级表层的检测,但这种水雾辅助检测方法效率低,不能满足当前的生产需求。因此,亟需寻求一种纯光学的无需借助水雾的检测系统。


技术实现思路

1、为了克服现有技术的不足,本专利技术的目的在于提供一种表面波纹度光学检测系统,其能解决上述问题。

2、设计原理:基于光的相位信息分析表面形貌,具体通过光波与被测表面相互作用后产生的相位变化来反演被测表面的微观高度差。当光照射到被测物体表面时,被测表面的高度差异会导致光波的光程差。若表面某本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种表面波纹度光学检测系统,其特征在于:系统包括光学检测站(100)、检测载台线(200)和处理器,所述光学检测站(100)包括设置在检测架(110)上的采集器模块(120)和检测光源模块(130),所述检测光源模块(130)朝向下方检测载台线(200)上的显示屏表面投射波长可调检测光,所述采集器模块(120)采显示屏的反射光和散射光,处理器接收光信号并基于相位分析获取显示屏的表面波纹度。

2.根据权利要求1所述的表面波纹度光学检测系统,其特征在于:所述采集器模块(120)和检测光源模块(130)均角度可调的设置在光学检测站(100)的检测架(110)上。

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【技术特征摘要】

1.一种表面波纹度光学检测系统,其特征在于:系统包括光学检测站(100)、检测载台线(200)和处理器,所述光学检测站(100)包括设置在检测架(110)上的采集器模块(120)和检测光源模块(130),所述检测光源模块(130)朝向下方检测载台线(200)上的显示屏表面投射波长可调检测光,所述采集器模块(120)采显示屏的反射光和散射光,处理器接收光信号并基于相位分析获取显示屏的表面波纹度。

2.根据权利要求1所述的表面波纹度光学检测系统,其特征在于:所述采集器模块(120)和检测光源模块(130)均角度可调的设置在光学检测站(100)的检测架(110)上。

3.根据权利要求1或2所述的表面波纹度光学检测系统,其特征在于:所述采集器模块(120)包括采集器(121)、旋转翻板(122)、采集器旋转调节组件(123)、采集器支撑座(124)和采集器转接座(125);两个采集器转接座(125)安装在检测架(110)龙门架顶部两端,两个采集器支撑座(124)设置在对应的采集器转接座(125)上,在采集器支撑座(124)上布置一个采集器旋转调节组件(123),在两个采集器旋转调节组件(123)之间支撑连接一个所述旋转翻板(122),所述采集器(121)设置在所述旋转翻板(122)上并随旋转翻板(122)位置和角度可调。...

【专利技术属性】
技术研发人员:巩旭辉王火平盛伟王俊杰邓督周明
申请(专利权)人:苏州天准科技股份有限公司
类型:发明
国别省市:

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