光谱测定测量方法和执行光谱测定测量方法的测量设备技术

技术编号:45547904 阅读:16 留言:0更新日期:2025-06-17 18:21
本发明专利技术涉及光谱测定测量方法和执行光谱测定测量方法的测量设备。本发明专利技术涉及光谱测定测量方法和用于测量液体介质的测量变量的测量设备,其中可能出现干扰物,包括其尺寸大于测量波长范围内的波长的空气泡、气体泡和/或颗粒。在此过程中,确定介质的测量光谱,并丢弃已经发生光学饱和的那些测量光谱。针对剩余的测量光谱中的每个确定介质光谱。在这种情况下,使用在介质的吸收系数变化小于预定光谱方差和/或低于极限值的光谱范围中在不存在干扰物的情况下预期的光谱特性的预定参考,进行检查以查看测量光谱是否包含由干扰物导致的偏移。在存在偏移的情况下,从对应的测量光谱减去偏移。最后,使用介质光谱来确定每个测量变量的测量值。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种用于确定液体介质的至少一个测量变量的光谱测定测量方法,以及一种被设计为执行该测量方法的测量设备。


技术介绍

1、用于执行光谱测定测量方法的测量设备在多种不同类型的应用中使用,例如在废水处理厂中、在洗衣房中和在饮用水输送厂中使用,以测量不同的测量变量。

2、这些测量设备通常包括具有光谱测定单元的光谱测定传感器,该光谱测定单元在测量操作期间接收由与介质的相互作用(诸如吸收、反射和/或散射)产生的测量辐射,并使用测量辐射来确定测量光谱,测量光谱中的每个再现测量辐射在预定测量波长范围中的光谱值。这些测量光谱被提供给评估装置,该评估装置使用测量光谱来确定至少一个测量变量的测量值,诸如介质中的分析物的浓度——例如介质的亚硝酸盐含量和/或硝酸盐含量、介质的化学或生物需氧量、和/或介质的浊度。

3、许多应用具有以下问题:在应用位置处的介质中可能出现的干扰物——诸如空气或气体泡和/或较大的颗粒——暂时损害测量光谱的质量。例如,如果在光谱测定传感器处或附近执行压缩空气清洁,则可能出现空气或气体泡。此外,它们也可能由流过光谱测定传感器的本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种用于测量液体介质(3)的至少一个测量变量的光谱测定测量方法,干扰物能够在所述液体介质中出现,所述干扰物包括其尺寸大于预定测量波长范围()内的波长()的空气泡、气体泡和/或颗粒,在所述光谱测定测量方法中:

2.根据权利要求1所述的测量方法,在所述测量方法中:

3.根据权利要求1至2所述的测量方法,其中:

4.根据权利要求3所述的测量方法,在所述测量方法中:

5.根据权利要求3至4所述的测量方法,在所述测量方法中,基于在所述参考波长()中在不存在干扰物的情况下借助于所述光谱测定传感器(1、1')记录的参考光谱的光谱值预先确定针对所述参考...

【技术特征摘要】

1.一种用于测量液体介质(3)的至少一个测量变量的光谱测定测量方法,干扰物能够在所述液体介质中出现,所述干扰物包括其尺寸大于预定测量波长范围()内的波长()的空气泡、气体泡和/或颗粒,在所述光谱测定测量方法中:

2.根据权利要求1所述的测量方法,在所述测量方法中:

3.根据权利要求1至2所述的测量方法,其中:

4.根据权利要求3所述的测量方法,在所述测量方法中:

5.根据权利要求3至4所述的测量方法,在所述测量方法中,基于在所述参考波长()中在不存在干扰物的情况下借助于所述光谱测定传感器(1、1')记录的参考光谱的光谱值预先确定针对所述参考波长()预期的所述参考值()。

6.根据权利要求1至5所述的测量方法,在所述测量方法中:

7.根据权利要求6所述的测量方法,在所述测量方法中:

8.根据权利要求6至7所述的测量方法,其中,在所述参考波长()中在不存在干扰物的情况下预期的所述参考值()是基于针对在所述参考波长()中在不存在干扰物的情况下借助于所述光谱测定传感器(1、1')记录的参考光谱、通过进行外推而确立的光谱值()预先确定的。

9.根据权利要求1至8所述的测量方法,在所述测量方法中:

10.根据权利要求9所述的测量方法,在所述测量方法中:

...

【专利技术属性】
技术研发人员:费利西娅·赛希特安德烈亚斯·拜尔蒂洛·克拉齐穆尔
申请(专利权)人:恩德斯豪斯分析仪表两合公司
类型:发明
国别省市:

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