【技术实现步骤摘要】
本申请涉及服务器测试，尤其涉及一种测试治具。
技术介绍
1、在服务器装机之前，需要会对pcie卡进行性能测试，将pcie卡插入测试治具的pcie插槽内，pcie卡的金手指与插槽内的触点接触产生电性连接，打开与测试治具连接的测试系统即可对pcie卡进行测试。然而，由于在pcie卡插入插槽的过程中，容易携带灰尘进入插槽内，灰尘堆积在插槽内会导致触点接触不良，影响信号的传输，从而影响测试结果。
技术实现思路
1、本申请提供了一种测试治具，以至少解决相关技术中pcie卡插入插槽过程中将灰尘带进插槽内而导致插槽易发生堆积灰尘的问题。
2、本申请提供了一种测试治具，包括本体和喷吹组件，本体具有插槽，插槽至少在第一方向上的一侧开口以用于插接待测试的工件，本体设有与插槽连通的第一气孔，喷吹组件包括吹气件和挡板，吹气件设在本体，吹气件具有容纳有气体的气腔，在工件脱离插槽的过程中或脱离插槽后，挡板沿第一方向可移动地设在吹气件上且挡板具有连通位置，在连通位置，气腔与第一气孔连通以向插槽吹气。
...【技术保护点】
1.一种测试治具（100），其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的测试治具（100），其特征在于，所述挡板（22）上设有第二气孔（221），在所述连通位置，所述气腔（211）通过所述第二气孔（221）与所述第一气孔（12）连通。
3.根据权利要求2所述的测试治具（100），其特征在于，所述第一气孔（12）具有多个，所述第二气孔（221）具有多个并与所述第一气孔（12）一一对应。
4.根据权利要求3所述的测试治具（100），其特征在于，
5.根据权利要求4所述的测试治具（100），其特征在于，所述挡板（22）还具有初...
【技术特征摘要】
1.一种测试治具（100），其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的测试治具（100），其特征在于，所述挡板（22）上设有第二气孔（221），在所述连通位置，所述气腔（211）通过所述第二气孔（221）与所述第一气孔（12）连通。
3.根据权利要求2所述的测试治具（100），其特征在于，所述第一气孔（12）具有多个，所述第二气孔（221）具有多个并与所述第一气孔（12）一一对应。
4.根据权利要求3所述的测试治具（100），其特征在于，
5.根据权利要求4所述的测试治具（100），其特征在于，所述挡板（22）还具有初始位置和最终位置，所述挡板（22）沿所述第一方向在所述初始位置和所述最终位置之间可移动，所述连通位置位于所述初始位置和所述最终位置之间，在所述初始位置，所述第一连通组（2211）的所述第二气孔（221）与所述第一方向组（121）的所述第一气孔（12）之间的距离小于所述第二连通组（2212）的所述第二气孔（221）与所述第二方向组（122）的所述第一气孔（12）之间的距离。
6.根据权利要求5所述的测试治具（100），其特征在于，所述连通位置包括第一连通位置和第二连通位置，在所述第一连通位置，第一方向组（121）的第一气孔（12）和第一连通组（2211）的第二气孔（221）连通，第二方向组（122）的第一气孔（12）和第二连通组（2212）的第二气孔（221）断开，在所述第二连通位置，第一方向组（121）的第一气孔（12）和第一连通组（2211）的第二气孔（221）断开，第二方向组（122）的第一气孔（12）和第二连通组（2212）的第二气孔（221）连通。
7.根据权利要求1所述的测试治具（100），其特征在于，还包括移动组件（3），所述移动组件（3）具有移动端（31），所述移动端（31）沿所述第一方向在插接位置和脱离位置之间移动，所述移动端（31）用于安装待测试的工件（200）以在所述插接位置使所述工件（200）与所述插槽（11）插接、在所述脱离位置使所述工件（200）与所述插槽（11）间隔开，所述移动端（31）与所述挡板（22）连接，以便所述移动端（31）带动所述挡板（22）沿所述第一方向移动。
8.根据权利要求7所述的测试治具（100），其特征在于，所述脱离位置包括第一脱离位置和第二脱离位置，所述第二脱离位置位于所述第一脱离位置和所述插接位置之间，在所述第二脱离位置，所述工件（200）与所述插槽（11）脱离并邻近所述插槽（11）的开口，在所述移动端（31）带动所述工件（200）脱离所述插槽（11）后并从所述第二脱离位置向所述第一脱离位置移动过程中，所述移动端（31）带动所述挡板（22）沿所述第一方向移动。
9.根据权利要求8所述的测试治具（100），其特征在于，所述吹气件（21）包括：
10.根据权利要求9所述的测试治具（100），其特征在于，所述推动件（215）包括第一推杆（2151）和第二推杆（2152），所述...
【专利技术属性】
技术研发人员：杨轶，
申请(专利权)人：苏州元脑智能科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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