【技术实现步骤摘要】
本技术涉及电子天平,尤其是涉及的是一种防尘天平。
技术介绍
1、分析天平是定量分析工作中不可缺少的精密测量仪器。分析天平在工业、医疗、化工等领域得到广泛的运用。
2、由于分析天平的待测对象对测量精度具有极高要求,测量过程中的丝毫误差均有可能影响测量结果,分析天平长时间放置后,没有良好密封结构,使得分析天平其表面必然会留下或多或少的灰尘,影响待测天平的测量结果。
3、现有的分析天平为了防止灰尘,在分析天平的上端安装防护罩,防护罩均是通过支架加上玻璃面板组装并且安装在天平上的,一般情况下是顶部会设置盖板将物体放入,但是盖板需要放置一边,可能会让盖板沾到桌面上的污渍,导致后续不清理的话容易影响天平内部,从而影响分析。
技术实现思路
1、本技术的其他特征和优点将在随后的说明书中阐述,并且部分地从说明书中变得显而易见,或者通过实施本技术而了解。本技术的目的和其他优点可通过说明书以及其他说明书附图中所特别指出的结构来实现和获得。
2、本技术的目的在于克服上述不足,提
...【技术保护点】
1.一种防尘天平,其特征在于,包括:
2.根据权利要求1所述的防尘天平,其特征在于:该滑块为电动滑块,且该天平本体一侧设有控制该电动滑块的控制按钮。
3.根据权利要求1所述的防尘天平,其特征在于:该连接槽内壁为铁制,该连接块为磁铁制作。
【技术特征摘要】
1.一种防尘天平,其特征在于,包括:
2.根据权利要求1所述的防尘天平,其特征在于:该滑块为电动滑块,且该天平本体一侧...
【专利技术属性】
技术研发人员:邹秀灵,张奕龙,林霞,
申请(专利权)人:中纺检测福建有限公司,
类型:新型
国别省市:
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