【技术实现步骤摘要】
本申请涉及高纯锗探测器，尤其涉及一种高纯锗探测器的模块化计算系统及方法。
技术介绍
1、高纯锗(hpge)探测器是一种重要的辐射探测器，广泛应用于γ射线和x射线的测量。由于其较高的能量分辨率、高探测效率和较宽的射线探测范围(从几kev到几mev)，高纯锗探测器在核物理、辐射安全、环境监测、医学成像以及材料分析等多个领域得到了广泛应用。特别是在精确的辐射能量测量和物质组成分析中，hpge探测器常常被视为首选设备。
2、在高纯锗探测器的使用过程中，探测效率是一个至关重要的技术指标，它直接影响到物理量测量结果的准确性。探测效率是指探测器能够有效地探测到辐射源发出的射线并转化为电信号的能力。为了提高测量结果的可靠性和准确性，精确刻度探测效率成为了hpge探测器性能评估的关键步骤。
3、目前，常用的效率刻度方法主要有两种：实验刻度法和基于蒙特卡洛(montecarlo,mc)方法的无源效率刻度法。实验刻度法通常需要使用制备好的标准源进行实验测量，根据不同条件下的实际测量结果来标定探测器效率。然而，这种方法操作复杂、耗时长且...
【技术保护点】
1.一种高纯锗探测器的模块化计算系统，其特征在于，所述系统包括：
2.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述探测器模块包括：
3.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述样品架模块包括：
4.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述样品容器模块包括：
5.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述样品源模块包括：
6.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述计算模块包括：
7.根据权利要求1至6中任意一项所述系统，其特征在于，所述系统还包括：
8.一种高纯锗探测器的模块化计算...
【技术特征摘要】
1.一种高纯锗探测器的模块化计算系统，其特征在于，所述系统包括：
2.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述探测器模块包括：
3.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述样品架模块包括：
4.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述样品容器模块包括：
5.根据权利要求...
【专利技术属性】
技术研发人员：李海鸿，龚伟婷，高超，明星宸，
申请(专利权)人：上海新漫传感科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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