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一种光场3D显示设备串扰测量方法技术

技术编号:45408839 阅读:23 留言:0更新日期:2025-05-30 18:05
本发明专利技术公开了一种光场3D显示设备串扰测量方法,方法包括:在暗室内部署光学测量平台以及三维扫描机械臂,并将光场3D显示设备水平倾斜放置在光学测量平台上;将最大亮度值对应的观测位置记录为第i个视点对应的最佳观测位置p<subgt;i</subgt;;基于最佳观测位置p<subgt;i</subgt;引入多级灰阶,计算明暗度为α时第i个视点处的串扰值;通过对不同明暗度下的串扰进行算术平均,获取第i个视点的最终串扰;综合考虑所有视点的影响以准确获取光场3D显示设备的串扰,建立了多视点串扰融合策略;利用多次测量的结果计算得到光场3D显示设备的最终串扰。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及3d显示,尤其涉及一种光场3d显示设备串扰测量方法。


技术介绍

1、光场3d显示技术通过重建光线在空间中的传播轨迹,再现三维显示场景的光线分布,能够为用户提供沉浸式的观看体验,已广泛应用于科技教育、远程医疗等领域。然而,受到光学器件的加工误差、多层光学结构的折射率匹配误差以及像素间漏光等因素的影响,容易引起视点间的串扰,进而降低光场3d显示设备的显示质量。为此,设计光场3d显示串扰测量方法,对光场3d显示设备的串扰进行测量,进而为光场3d显示器件的结构优化提供参考,具有重要的研究意义。

2、近年来科技人员研究了多种针对传统显示设备的串扰测量方法,为光场3d显示设备串扰测量方法的研究提供了有力支撑。skala等人利用数码相机开发了一种自动化串扰测量系统,通过利用几何校正和亮度校正模块,准确测量了待测显示屏中不同显示区域的串扰。boev等人提出了一种针对自动立体屏幕的串扰测量方法,利用多视点图像分离算法对光泄漏量进行量化,实现了对屏幕串扰的测量。吴等人分析了双目串扰产生的关键因素,提出了屏幕多点光色度探测方案来测量待测屏幕的串扰,提升本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种光场3D显示设备串扰测量方法,其特征在于,所述方法包括:

2.根据权利要求1所述的一种光场3D显示设备串扰测量方法,其特征在于,所述将最大亮度值对应的观测位置记录为第i个视点对应的最佳观测位置pi具体为:

3.根据权利要求1所述的一种光场3D显示设备串扰测量方法,其特征在于,所述基于最佳观测位置pi引入多级灰阶,计算明暗度为α时第i个视点处的串扰值具体为:

4.根据权利要求3所述的一种光场3D显示设备串扰测量方法,其特征在于,所述通过对不同明暗度下的串扰进行算术平均,获取第i个视点的最终串扰为:

【技术特征摘要】

1.一种光场3d显示设备串扰测量方法,其特征在于,所述方法包括:

2.根据权利要求1所述的一种光场3d显示设备串扰测量方法,其特征在于,所述将最大亮度值对应的观测位置记录为第i个视点对应的最佳观测位置pi具体为:

3.根据权利要求1所述的一种光场3...

【专利技术属性】
技术研发人员:雷建军朱文刚张汉乐刘秉正彭勃
申请(专利权)人:天津大学
类型:发明
国别省市:

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