【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及集成电路，具体而言，涉及一种fpga芯片验证方法、装置、电子设备及存储介质。
技术介绍
1、fpga芯片的设计与制造是半导体产业的核心组成部分，随着半导体技术的不断进步，fpga芯片的设计与制造愈发显得重要。在fpga芯片的设计与制造过程中，fpga芯片验证是确保设计在实际应用中能够准确且高效运行的关键环节。
2、对fpga芯片功能的正确性进行验证至关重要。有效的全面验证方法能够对芯片电路的逻辑功能进行详尽测试，从而显著缩短fpga芯片的开发周期，并有助于发现潜在的芯片电路问题。然而，在相关fpga芯片功能验证过程中，当验证出现偏差时，难以有效区分是仿真流程存在问题还是硬件逻辑本身存在缺陷。
技术实现思路
1、有鉴于此，本专利技术的目的在于提供一种fpga芯片验证方法、装置、电子设备和存储介质，其对fpga芯片进行更为全面的测试验证，在fpga芯片的仿真出现问题时有效地判别是仿真流程存在问题还是硬件逻辑本身存在缺陷。
2、为了实现上述目的，本专利技术采...
【技术保护点】
1.一种FPGA芯片验证方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的FPGA芯片验证方法，其特征在于，所述将所述比特流文件下载至FPGA芯片，以对所述测试案例进行板级测试，得到板级测试结果的步骤，包括：
3.根据权利要求1或2所述的FPGA芯片验证方法，其特征在于，所述基于所述比特流文件，对所述测试案例进行比特流仿真，得到比特流仿真结果的步骤，包括：
4.根据权利要求3所述的FPGA芯片验证方法，其特征在于，所述FPGA芯片包括多个电路子模块，所述比特流文件包括与所述电路子模块一一对应的多个配置值；
5.根...
【技术特征摘要】
1.一种fpga芯片验证方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的fpga芯片验证方法，其特征在于，所述将所述比特流文件下载至fpga芯片，以对所述测试案例进行板级测试，得到板级测试结果的步骤，包括：
3.根据权利要求1或2所述的fpga芯片验证方法，其特征在于，所述基于所述比特流文件，对所述测试案例进行比特流仿真，得到比特流仿真结果的步骤，包括：
4.根据权利要求3所述的fpga芯片验证方法，其特征在于，所述fpga芯片包括多个电路子模块，所述比特流文件包括与所述电路子模块一一对应的多个配置值；
5.根据权利要求1或2所述的fpga芯片验证方法，其特征在于，所述基于所述综合网表文件，对所述测试案例进行功能仿真，得到功能仿真结果的步骤，包括：
<...【专利技术属性】
技术研发人员：赵井坤，孙莉莉，王常慧，杜金凤，李杨，
申请(专利权)人：广东高云半导体科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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