一种低对比度玻璃缺陷检测方法、系统、设备及介质技术方案

技术编号:45210003 阅读:22 留言:0更新日期:2025-05-09 18:57
本发明专利技术提供了一种低对比度玻璃缺陷检测方法、系统、设备及介质,属于低对比度玻璃缺陷检测技术领域。本发明专利技术方法包括获取低对比度玻璃表面的图像;对得到的低对比度玻璃表面的图像的缺陷区域进行初步定位,得到初步定位后的低对比度玻璃表面的图像的缺陷区域;对得到的初步定位后的低对比度玻璃表面的图像的缺陷区域进行图像二次处理,得到最终的低对比度玻璃表面的图像的缺陷区域。本发明专利技术解决了对低对比度玻璃缺陷检测准确性不高的问题。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于低对比度玻璃缺陷检测,具体涉及一种低对比度玻璃缺陷检测方法、系统、设备及介质


技术介绍

1、玻璃生产过程中,缺陷检测是确保产品质量的关键环节。然而,目前现有的玻璃缺陷检测方法在处理低对比度缺陷时存在局限性,往往只能检测到缺陷的一部分,难以全面地对玻璃缺陷进行检测。由于缺陷的对比度较低,按照现有的缺陷检测方法可能只能检测到缺陷的一部分。为了检测缺陷的其余部分,现有技术中常用的做法是整体提高灵敏度,但会导致以下问题:

2、1)整体提高灵敏度可能会导致原本不明显的噪声变得更加明显,影响了图像质量。

3、2)过高的灵敏度可能会导致原本不存在的缺陷被误检出来,增加了后续分析的难度和成本。

4、综上,目前现有的低对比度玻璃缺陷检测方法存在对低对比度玻璃缺陷检测准确性不高的问题。


技术实现思路

1、本专利技术的目的在于提供一种低对比度玻璃缺陷检测方法、系统、设备及介质,用于解决现有技术中对低对比度玻璃缺陷检测准确性不高的问题。

2、为了实现上述目的,本专利技术本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种低对比度玻璃缺陷检测方法,其特征在于,包括以下步骤:

2.根据权利要求1所述的低对比度玻璃缺陷检测方法,其特征在于,所述获取低对比度玻璃表面的图像的步骤中,具体采用图像采集系统的图像传感器获取低对比度玻璃表面的图像。

3.根据权利要求1所述的低对比度玻璃缺陷检测方法,其特征在于,所述对得到的低对比度玻璃表面的图像的缺陷区域进行初步定位,得到初步定位后的低对比度玻璃表面的图像的缺陷区域的步骤中,具体利用像素灰度特征对得到的低对比度玻璃表面的图像的缺陷区域进行初步定位,得到初步定位后的低对比度玻璃表面的图像的缺陷区域。

4.根据权利要求1所述的低对...

【技术特征摘要】

1.一种低对比度玻璃缺陷检测方法,其特征在于,包括以下步骤:

2.根据权利要求1所述的低对比度玻璃缺陷检测方法,其特征在于,所述获取低对比度玻璃表面的图像的步骤中,具体采用图像采集系统的图像传感器获取低对比度玻璃表面的图像。

3.根据权利要求1所述的低对比度玻璃缺陷检测方法,其特征在于,所述对得到的低对比度玻璃表面的图像的缺陷区域进行初步定位,得到初步定位后的低对比度玻璃表面的图像的缺陷区域的步骤中,具体利用像素灰度特征对得到的低对比度玻璃表面的图像的缺陷区域进行初步定位,得到初步定位后的低对比度玻璃表面的图像的缺陷区域。

4.根据权利要求1所述的低对比度玻璃缺陷检测方法,其特征在于,所述对得到的初步定位后的低对比度玻璃表面的图像的缺陷区域进行图像二次处理,得到最终的低对比度玻璃表面的图像的缺陷区域的步骤中,具体利用虚拟通道对得到的初步定位后的低对比度玻璃表面的图像的缺陷区域进行图像二次处理,得到最终的低对比度玻璃表面的图像的缺陷区域。

5.根据权利要求1或4所述的低对比度玻璃缺陷检测方法,其特征在于...

【专利技术属性】
技术研发人员:焦宗平
申请(专利权)人:彩虹显示器件股份有限公司
类型:发明
国别省市:

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1