【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及芯片测试，特别是涉及一种流水线型芯片测试设备。
技术介绍
1、随着科学技术的进步，在芯片的性能方面，相关行业提出了很高的要求，很大程度上促进了芯片的发展，而芯片的可靠性在实际应用过程中具有至关重要的作用，在现行对芯片需求大增的前提下，供货商除了确保最终测试合格外，还必须能够迅速大量出货；
2、现有就是通过自动化测试设备进行快速测试，现有的设备就是通过测试台和机械移载装置配合，将芯片逐一放置在测试台侧面进行检测，经观察现场使用还存在以下问题：
3、1、现有的芯片测试就是通过芯片针脚插入测试台侧面，而现有芯片通过输送线输送，在其侧面位置不固定，虽然设置有视觉检测仪辅助判断位置，但还是存在芯片与测试台卡接不到位的情况发生；
4、2、现有的芯片在生产中，由于工艺问题可能出现薄厚不一的情况，过薄的芯片后续无法正常使用，而现有的测试装置不能对其进行检测，需要后续继续进行挑拣；
5、3、现有的芯片测试只能根据室温进行配合测试台检测，无法有效进行模拟高温或者低温情况下的芯片使用状态，为此，我们提出一种流水线型芯片测试设备。
技术实现思路
1、为了克服上述现有技术所存在的技术问题，本专利技术提供一种流水线型芯片测试设备。
2、为解决上述技术问题，本专利技术提供如下技术方案：包括机柜，机柜的上侧一角位置设置有控制台和显示器，机柜的上侧设置有两组带式输送机，一组带式输送机的侧面设置有筛选机，两组带式输送机之间设置有测试机构，带式输
3、测试机构包括安装台，安装台的侧面开设有开腔，开腔的底壁固定安装有测试板，安装台的内部设置有压块，压块的侧面设置有固定架，固定架的侧面设置有挡块，安装台内部设置有校准模块和温控模块；
4、校准模块包括活动腔、内腔和滑腔，活动腔的内部活动安装有第一齿轴，内腔的内部活动安装有同步板，滑腔的内部活动安装有校准块；
5、温控模块包括配合腔、第一导风腔和第二导风腔，第一导风腔的侧面设置有连接管，配合腔的内部活动安装有配合块，配合块的侧面开设有连通槽，配合块的下侧设置有第二齿轴。
6、进一步的，所述机柜的上侧分别设置有收纳盒和废料盒，带式输送机上侧设置有引导板，引导板的侧面固定安装有连接块，连接块的内部活动设置有螺栓组且螺栓组固定安装在带式输送机支架侧面。
7、进一步的，所述安装台设置在两组带式输送机之间且安装台下侧设置有圆柱支撑固定在机柜上侧，开腔开设在安装台的上侧中间位置，开腔的侧壁开设有连接腔，压块活动安装在连接腔的内部，固定架设置在安装台的侧面，挡块设置在引导板上侧位置，挡块通过螺栓挤压固定在固定架侧面。
8、进一步的，所述压块的侧面固定安装有约束杆，压块和固定架侧面之间固定连接有支撑筒且支撑筒活动套接在约束杆侧面位置，安装台的下侧通过连接件固定安装有第一电推杆且第一电推杆输出端固定安装在固定架侧面。
9、进一步的，所述活动腔开设在安装台的侧面且其设置在测试板下方位置，内腔开设在活动腔的顶壁且其设置在测试板下方位置，第一齿轴延伸至内腔内部，同步板固定安装在第一齿轴上侧位置，同步板的侧面等距开设有四组引导槽。
10、进一步的，所述滑腔开设在内腔的顶壁且其贯穿安装台至开腔内部，滑腔对应开腔四侧壁面位置，校准块设置在引导槽上方位置，校准块的下侧固定安装有引导块且引导块活动安装在引导槽内部。
11、进一步的，所述配合腔开设在活动腔的顶壁，第一导风腔开设在配合腔的内壁，第二导风腔开设在配合腔的内壁且其贯穿安装台至开腔内部位置。
12、进一步的，所述连接管固定安装在控制台的侧面且其分别贯穿安装台至第一导风腔内部，连通槽开设在配合块的侧面对应第一导风腔和第二导风腔位置，第二齿轴固定安装在配合块的下侧且其延伸出配合腔至活动腔内部位置。
13、与现有技术相比，本专利技术能达到的有益效果是：
14、1、本专利技术通过设置三轴移载、吸料组、测试机构和带式输送机及其周边部件，可实现芯片的自动化流水线测试操作，且测试时可保证芯片与测试板的稳定卡接，保证测试的效果，测试前通过机械结构对芯片进行初步限制定位，使芯片与测试板卡接时位置不会偏移，无需设置视觉检测仪，也减少了设备制造成本。
15、2、本专利技术通过设置挡块及其周边部件，挡块可配合引导板对芯片进行约束限位，同时挡块可进行位置调节，将厚度不合格的芯片直接在输送时进行剔除，避免后续分拣的复杂工作，且多组挡块逐一对芯片进行限位即可完成芯片输送时的逐一定位上料测试操作。
16、3、本专利技术通过设置校准模块，即可在芯片放置在开腔内部时，第一电推杆拉动固定架触发其中校准块对芯片四侧进行挤压限位，配合压块对芯片下压，使芯片可稳定与测试板完成卡接固定，进一步的对芯片完成定位操作，保证芯片测试的效率最佳。
17、4、本专利技术通过设置温控模块，即可在芯片测试时，根据需求对开腔内部温度进行调节，模拟高温和低温状态下的芯片测试，且多组测试板可通过温控模块进行单独的温度干涉，进行温度小范围调节操作，保证温度测试模拟时的温度多元化。
18、5、本专利技术通过单组第一电推杆即可对校准模块和温控模块各部件进行驱动触发操作，使得驱动件设置数量减少，优化了设备制作的成本和程序写入的复杂程度。
19、6、本专利技术通过设置支撑块及其周边部件，使齿杆可在联动架侧面呈弹性状态，使得齿杆与第一齿轴、第二齿轴脱离后，后续可更好的进行相啮合操作，齿杆接触第一齿轴、第二齿轴侧面时会产生一定的避让，保证啮合对接稳定。
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1.一种流水线型芯片测试设备，包括机柜（1），机柜（1）的上侧一角位置设置有控制台（11）和显示器（12），机柜（1）的上侧设置有两组带式输送机（3），一组带式输送机（3）的侧面设置有筛选机，两组带式输送机（3）之间设置有测试机构（4），带式输送机（3）侧面设置有三轴移载（2），三轴移载（2）的侧面设置有吸料组（21）；
2.根据权利要求1所述的一种流水线型芯片测试设备，其特征在于：所述机柜（1）的上侧分别设置有收纳盒（31）和废料盒（32），带式输送机（3）上侧设置有引导板（33），引导板（33）的侧面固定安装有连接块（34），连接块（34）的内部活动设置有螺栓组（35）且螺栓组（35）固定安装在带式输送机（3）支架侧面。
3.根据权利要求2所述的一种流水线型芯片测试设备，其特征在于：所述安装台（41）设置在两组带式输送机（3）之间且安装台（41）下侧设置有圆柱支撑固定在机柜（1）上侧，开腔（42）开设在安装台（41）的上侧中间位置，开腔（42）的侧壁开设有连接腔（43），压块（431）活动安装在连接腔（43）的内部，固定架（44）设置在安装台（41）的
4.根据权利要求3所述的一种流水线型芯片测试设备，其特征在于：所述压块（431）的侧面固定安装有约束杆（432），压块（431）和固定架（44）侧面之间固定连接有支撑筒（433）且支撑筒（433）活动套接在约束杆（432）侧面位置，安装台（41）的下侧通过连接件固定安装有第一电推杆（45）且第一电推杆（45）输出端固定安装在固定架（44）侧面。
5.根据权利要求4所述的一种流水线型芯片测试设备，其特征在于：所述活动腔（51）开设在安装台（41）的侧面且其设置在测试板（421）下方位置，内腔（52）开设在活动腔（51）的顶壁且其设置在测试板（421）下方位置，第一齿轴（53）延伸至内腔（52）内部，同步板（54）固定安装在第一齿轴（53）上侧位置，同步板（54）的侧面等距开设有四组引导槽（541）。
6.根据权利要求5所述的一种流水线型芯片测试设备，其特征在于：所述滑腔（55）开设在内腔（52）的顶壁且其贯穿安装台（41）至开腔（42）内部，滑腔（55）对应开腔（42）四侧壁面位置，校准块（551）设置在引导槽（541）上方位置，校准块（551）的下侧固定安装有引导块（552）且引导块（552）活动安装在引导槽（541）内部。
7.根据权利要求6所述的一种流水线型芯片测试设备，其特征在于：所述配合腔（61）开设在活动腔（51）的顶壁，第一导风腔（62）开设在配合腔（61）的内壁，第二导风腔（63）开设在配合腔（61）的内壁且其贯穿安装台（41）至开腔（42）内部位置。
8.根据权利要求7所述的一种流水线型芯片测试设备，其特征在于：所述连接管（64）固定安装在控制台（11）的侧面且其分别贯穿安装台（41）至第一导风腔（62）内部，连通槽（66）开设在配合块（65）的侧面对应第一导风腔（62）和第二导风腔（63）位置，第二齿轴（67）固定安装在配合块（65）的下侧且其延伸出配合腔（61）至活动腔（51）内部位置。
...【技术特征摘要】
1.一种流水线型芯片测试设备，包括机柜（1），机柜（1）的上侧一角位置设置有控制台（11）和显示器（12），机柜（1）的上侧设置有两组带式输送机（3），一组带式输送机（3）的侧面设置有筛选机，两组带式输送机（3）之间设置有测试机构（4），带式输送机（3）侧面设置有三轴移载（2），三轴移载（2）的侧面设置有吸料组（21）；
2.根据权利要求1所述的一种流水线型芯片测试设备，其特征在于：所述机柜（1）的上侧分别设置有收纳盒（31）和废料盒（32），带式输送机（3）上侧设置有引导板（33），引导板（33）的侧面固定安装有连接块（34），连接块（34）的内部活动设置有螺栓组（35）且螺栓组（35）固定安装在带式输送机（3）支架侧面。
3.根据权利要求2所述的一种流水线型芯片测试设备，其特征在于：所述安装台（41）设置在两组带式输送机（3）之间且安装台（41）下侧设置有圆柱支撑固定在机柜（1）上侧，开腔（42）开设在安装台（41）的上侧中间位置，开腔（42）的侧壁开设有连接腔（43），压块（431）活动安装在连接腔（43）的内部，固定架（44）设置在安装台（41）的侧面，挡块（441）设置在引导板（33）上侧位置，挡块（441）通过螺栓挤压固定在固定架（44）侧面。
4.根据权利要求3所述的一种流水线型芯片测试设备，其特征在于：所述压块（431）的侧面固定安装有约束杆（432），压块（431）和固定架（44）侧面之间固定连接有支撑筒（433）且支撑筒（433）活动套接在约束杆（432）侧面位置，安装台（41）的下侧通过连接件固定安装有第一电推杆（4...
【专利技术属性】
技术研发人员：何清喜，
申请(专利权)人：常州云茂智能科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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