一种波长计及波长测量方法技术

技术编号:45084672 阅读:27 留言:0更新日期:2025-04-25 18:22
本申请提供了一种波长计及波长测量方法,所述波长计包括:分光器,用于获取输入光,并将所述输入光按照预设比例划分为多个光信号;信号通道组,用于对多个光信号分别进行信号探测,得到针对输入光的多个波长相关参数;数据处理模块,用于基于针对输入光的多个波长相关参数,得到输入光的波长。本申请的波长计体积小且成本低,能够实现对光源波长的准确测量。

【技术实现步骤摘要】

本申请涉及波长测量,尤其涉及一种低成本的波长计及波长测量方法


技术介绍

1、光学波长计是一种用于测量窄线宽光源(如激光束)波长的仪器。目前的波长计普遍体积庞大且价格昂贵。因此,如何在实现对波长准确测量的前提下减小波长计的体积和成本,成为亟待解决的技术问题。


技术实现思路

1、本申请提供了一种波长计及波长测量方法,以至少解决现有技术中存在的以上技术问题。

2、根据本申请的第一方面,提供了一种波长计,所述波长计包括:

3、分光器,用于获取输入光,并将所述输入光按照预设比例划分为多个光信号;

4、信号通道组,用于对多个光信号分别进行信号探测,得到针对输入光的多个波长相关参数;

5、数据处理模块,用于基于针对输入光的多个波长相关参数,得到输入光的波长。

6、在一可实施方式中,所述信号通道组包括第一信号通道、第二信号通道、第三信号通道以及第四信号通道;

7、所述第一信号通道包括第一探测器,用于对多个光信号中的第一光信号进行信号探测,得到针对输入光本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种波长计,其特征在于,所述波长计包括:

2.根据权利要求1所述的波长计,其特征在于,所述信号通道组包括第一信号通道、第二信号通道、第三信号通道以及第四信号通道;

3.根据权利要求2所述的波长计,其特征在于,所述线性滤波器与所述第二探测器依次连接;所述线性滤波器用于对第二光信号进行线性滤波;所述第二探测器用于对经过线性滤波的第二光信号进行信号探测,得到针对第二光信号的探测值,将所述针对第二光信号的探测值作为针对输入光的第二波长相关参数;

4.根据权利要求2或3所述的波长计,其特征在于,所述数据处理模块包括第一处理模块、第二处理模块、第三处理模块和第...

【技术特征摘要】

1.一种波长计,其特征在于,所述波长计包括:

2.根据权利要求1所述的波长计,其特征在于,所述信号通道组包括第一信号通道、第二信号通道、第三信号通道以及第四信号通道;

3.根据权利要求2所述的波长计,其特征在于,所述线性滤波器与所述第二探测器依次连接;所述线性滤波器用于对第二光信号进行线性滤波;所述第二探测器用于对经过线性滤波的第二光信号进行信号探测,得到针对第二光信号的探测值,将所述针对第二光信号的探测值作为针对输入光的第二波长相关参数;

4.根据权利要求2或3所述的波长计,其特征在于,所述数据处理模块包括第一处理模块、第二处理模块、第三处理模块和第四处理模块;

5.一种波长测量方法,其特征在于,所述方法应用...

【专利技术属性】
技术研发人员:谢永杰
申请(专利权)人:高迈光通讯技术福建有限公司
类型:发明
国别省市:

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