【技术实现步骤摘要】
本申请涉及光学检测，尤其涉及一种应用于显示面板内部玻璃基板的缺陷检测方法及装置。
技术介绍
1、随着社会的发展，电子显示设备更新换代越来越快，显示设备的种类、大小也越来越多，对显示设备的要求也越来越高。玻璃基板作为液晶显示器的主要原材，在生产过程中极易出现缺陷，其产品质量及利用率直接关系到液晶显示器的成像效果。
2、传统的玻璃基板缺陷检测方法通常依赖于单一的光学检测手段，例如亮度检测、对比度检测或简单的表面缺陷检测，这些方法在检测复杂缺陷（如内部气泡、杂质、应力不均匀等）时存在局限性，导致检测准确度不足。
技术实现思路
1、本申请实施例提供一种应用于显示面板内部玻璃基板的缺陷检测方法及装置，用于提高玻璃基板的缺陷检测准确度。
2、本专利技术实施例提供一种应用于显示面板内部的玻璃基板的缺陷检测方法，所述方法应用于玻璃基板缺陷检测系统，所述系统包括：折射图像模块、光谱图像模块、协同控制模块以及玻璃基板缺陷检测装置；所述折射图像模块包括多角度偏振光源阵列、高速偏振相机、白光干涉仪；所述光谱图像模块包括高光谱成像相机和led匀光光源；所述协同控制模块包括六轴运动平台以及六轴机械臂，所述六轴运动平台上设置有吸附玻璃基板的真空吸盘；所述多角度偏振光源阵列和所述高光谱成像相机设置在所述六轴机械臂上，所述高速偏振相机和所述led匀光光源设置在正对于所述玻璃基板上方；所述玻璃基板缺陷检测装置与所述折射图像模块、光谱图像模块、协同控制模块相连，所述玻璃基板缺陷检测装置用于通过所
3、本专利技术实施例提供一种璃基板缺陷检测装置，所述装置应用于执行权利要求1至7任一项所述的应用于显示面板内部的玻璃基板的缺陷检测方法，所述装置包括：
4、获取模块，用于设置所述多角度偏振光源阵列的光源参数，以通过所述高速偏振相机获取多角度偏振光场数据 i(θ,λ,p,x,y) ；其中，θ为入射角、λ为波长、p为偏振态、(x,y)为位置坐标；
5、生成模块，用于根据所述多角度偏振光场数据 i(θ,λ,p,x,y) 生成三维折射率异常图；所述三维折射率异常图中包括各个体素对应的折射率扰动值；
6、确定模块，用于通过所述三维折射率异常图中折射率扰动值确定的异常位置坐标，并根据所述异常位置坐标从通过所述高光谱成像相机获取的二维光谱图像中截取异常区域图像；所述二维光谱图像包括各个位置点的光谱数据；
7、映射模块，用于通过坐标变换将所述异常区域图像中的光谱数据映射到所述三维折射率异常图中；
8、预测模块，用于根据映射有光谱数据的三维折射率异常图中的折射率扰动值和光谱数据确定所述玻璃基板的缺陷类型以及缺陷原因。
9、一种计算机程序产品，所述计算机程序产品包括计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现上述的应用于显示面板内部的玻璃基板的缺陷检测方法。
10、本专利技术提供一种应用于显示面板内部玻璃基板的缺陷检测方法及装置，首先设置所述多角度偏振光源阵列的光源参数，以通过所述高速偏振相机获取多角度偏振光场数据i(θ,λ,p,x,y) ；然后根据所述多角度偏振光场数据 i(θ,λ,p,x,y) 生成三维折射率异常图；所述三维折射率异常图中包括各个体素对应的折射率扰动值；通过所述三维折射率异常图中折射率扰动值确定的异常位置坐标，并根据所述异常位置坐标从通过所述高光谱成像相机获取的二维光谱图像中截取异常区域图像；所述二维光谱图像包括各个位置点的光谱数据；通过坐标变换将所述异常区域图像中的光谱数据映射到所述三维折射率异常图中；根据映射有光谱数据的三维折射率异常图中的折射率扰动值和光谱数据确定所述玻璃基板的缺陷类型以及缺陷原因。相对于现有技术依赖于单一的光学检测手段对玻璃基板进行检测，本申请将偏振成像和高光谱成像两种技术相结合，实现了多模态数据的融合分析，显著提高了玻璃基板缺陷检测的准确度。
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1.一种应用于显示面板内部的玻璃基板的缺陷检测方法，其特征在于，所述方法应用于玻璃基板缺陷检测系统，所述系统包括：折射图像模块、光谱图像模块、协同控制模块以及玻璃基板缺陷检测装置；所述折射图像模块包括多角度偏振光源阵列、高速偏振相机、白光干涉仪；所述光谱图像模块包括高光谱成像相机和LED匀光光源；所述协同控制模块包括六轴运动平台以及六轴机械臂，所述六轴运动平台上设置有吸附玻璃基板的真空吸盘；所述多角度偏振光源阵列和所述高光谱成像相机设置在所述六轴机械臂上，所述高速偏振相机和所述LED匀光光源设置在正对于所述玻璃基板上方；所述玻璃基板缺陷检测装置与所述折射图像模块、光谱图像模块、协同控制模块相连，所述玻璃基板缺陷检测装置用于通过所述折射图像模块和光谱图像模块获取的图像数据确定所述玻璃基板的缺陷类型以及缺陷原因。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述通过所述折射图像模块和光谱图像模块获取的图像数据确定所述玻璃基板的缺陷类型以及缺陷原因，包括：
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据所述多角度偏振光场数据 I (θ,λ,P,x,y) 生成三
4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述根据所述表面高度分布计算理论光程，包括：
5.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据所述异常位置坐标从通过所述高光谱成像相机获取的二维光谱图像中截取异常区域图像之前，所述方法还包括：
6.根据权利要求2至5任一项所述的方法，其特征在于，所述根据映射有光谱数据的三维折射率异常图中的折射率扰动值和光谱数据确定所述玻璃基板的缺陷类型以及缺陷原因，包括：
7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述通过所述图结构数据中的缺陷节点和对应的连接边确定所述玻璃基板的缺陷类型以及缺陷原因，包括：
8.一种玻璃基板缺陷检测装置，其特征在于，所述装置应用于执行权利要求1至7任一项所述的应用于显示面板内部的玻璃基板的缺陷检测方法，所述装置包括：
9.一种计算机设备，包括存储器、处理器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现如权利要求1至7任一项所述的应用于显示面板内部的玻璃基板的缺陷检测方法。
10.一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至7任一项所述的应用于显示面板内部的玻璃基板的缺陷检测方法。
...【技术特征摘要】
1.一种应用于显示面板内部的玻璃基板的缺陷检测方法，其特征在于，所述方法应用于玻璃基板缺陷检测系统，所述系统包括：折射图像模块、光谱图像模块、协同控制模块以及玻璃基板缺陷检测装置；所述折射图像模块包括多角度偏振光源阵列、高速偏振相机、白光干涉仪；所述光谱图像模块包括高光谱成像相机和led匀光光源；所述协同控制模块包括六轴运动平台以及六轴机械臂，所述六轴运动平台上设置有吸附玻璃基板的真空吸盘；所述多角度偏振光源阵列和所述高光谱成像相机设置在所述六轴机械臂上，所述高速偏振相机和所述led匀光光源设置在正对于所述玻璃基板上方；所述玻璃基板缺陷检测装置与所述折射图像模块、光谱图像模块、协同控制模块相连，所述玻璃基板缺陷检测装置用于通过所述折射图像模块和光谱图像模块获取的图像数据确定所述玻璃基板的缺陷类型以及缺陷原因。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述通过所述折射图像模块和光谱图像模块获取的图像数据确定所述玻璃基板的缺陷类型以及缺陷原因，包括：
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据所述多角度偏振光场数据 i (θ,λ,p,x,y) 生成三维折射率异常图，包括：
4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述根据所述表面高度分布...
【专利技术属性】
技术研发人员：王延娇，徐雅林，戴舒杨，
申请(专利权)人：登景天津科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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