【技术实现步骤摘要】
本申请涉及电磁场测试，尤其涉及一种近场天线测试的方法、设备和系统。
技术介绍
1、天线测量技术是现代通信和电子工程领域不可或缺的关键技术。天线测量在雷达、卫星通信和物联网等领域发挥着重要作用。尤其是在复杂多变的电磁环境中，天线测量的精度和效率直接影响系统的整体性能。
2、当前常见的天线测量系统包括远场测量、紧缩场测量和近场测量。在这些测量系统中，近场测量因其空间需求低、外部干扰不敏感等优势而备受关注。根据扫描面的形状，近场测量系统分为平面、圆柱形和球面测量。特别是近场测量系统，由于实现简单，广泛用于定向天线的测量。
3、传统的近场测量系统主要由三部分组成，分别是吸波材料、近场扫描架、转台。其中，吸波材料安装在暗室墙壁或其他可能对测试结果产生干扰的位置，提供接近自由空间的测试环境；近场扫描架安装探头，通过控制探头实现对整个采样平面的扫描以获取所需要的近场数据；在整个测试过程中，待测天线被放置在转台上。
4、在测试过程中，将待测天线放置在转台上，将其与基站仿真器相连。利用基站仿真器控制待测天线在整个测试期...
【技术保护点】
1.一种近场测试方法，在近场平面上设置采样点，根据采样点的场值进行平面近远场转换，其特征在于，所述的采样点为非均匀分布，采样点间距与采样点测试距离正相关，所述的测试距离是采样点位置和待测区域原点之间的距离。
2.如权利要求1所述的近场测试方法，其特征在于，所述采样点的位置和待测区域原点之间的连线，在以原点为球心的球面上的交点满足Igloo球面采样位置。
3.如权利要求1所述的近场测试方法，其特征在于，所述的Igloo球面采样位置在球面坐标上的分布为：极角间隔相同，方位角间隔随极角减小而加大；所述近场平面法向为极角90度方向。
4.如...
【技术特征摘要】
1.一种近场测试方法，在近场平面上设置采样点，根据采样点的场值进行平面近远场转换，其特征在于，所述的采样点为非均匀分布，采样点间距与采样点测试距离正相关，所述的测试距离是采样点位置和待测区域原点之间的距离。
2.如权利要求1所述的近场测试方法，其特征在于，所述采样点的位置和待测区域原点之间的连线，在以原点为球心的球面上的交点满足igloo球面采样位置。
3.如权利要求1所述的近场测试方法，其特征在于，所述的igloo球面采样位置在球面坐标上的分布为：极角间隔相同，方位角间隔随极角减小而加大；所述近场平面法向为极角90度方向。
4.如权利要求1所述的近场测试方法，其特征在于，根据采样点的场值用平面近远场转换算法得到远场的值，进一步包括以下步骤：
5.如权利要求4所述的近场测试...
【专利技术属性】
技术研发人员：王志勤，任宇鑫，马宇辰，张宇，潘冲，张翔，
申请(专利权)人：中国信息通信研究院，
类型：发明
国别省市：
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。