X射线检查装置制造方法及图纸

本申请涉及X射线检查装置。X射线检查装置（1）具备：X射线照射部（6），通过在X射线管球（50）中的阴极（57）与阳极（56）之间施加第一电压而产生X射线，并对所输送的物品（G）照射X射线；X射线检测部（7），检测从X射线照射部（6）照射的X射线；检查部（40），基于X射线检测部（7）的检测结果生成X射线透射图像，并检查物品（G）；以及控制部（40），变更施加在阴极（57）与阳极（56）之间的电压。控制部（40）在开始照射通过施加第一电压而产生的X射线之前或者结束照射通过施加第一电压而产生的X射线的之后，在阴极（57）与阳极（56）之间施加比第一电压高的第二电压。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术的一方面涉及x射线检查装置。

技术介绍

1、已知一种x射线检查装置（例如专利文献1：日本特开2014-2023号公报），具备输送物品的输送部、对由输送部输送的物品照射x射线的x射线照射部以及检测透过了物品的x射线的x射线检测部。在这样的x射线检查装置中，进行如下处理，即，与检查对象的物品的种类相匹配地调整施加于x射线管的电压值，并适当地切换x射线的输出值。

技术实现思路

1、在这样的x射线检查装置中，当在电压值例如为15kv～50kv的范围的低电压的条件下持续执行检查时，有时会产生因在所获取的x射线透射图像的局部，x射线未被适当地放射（在x射线管球内产生的异常放电）而引起的不良情况。在该情况下，需要再次获取x射线透射图像，x射线检查装置的检查处理能力下降。

2、所以，本专利技术的一方面的目的在于，提供一种x射线检查装置，即使当在低电压的条件下持续执行检查的情况下，也能够抑制检查处理能力下降。

3、（1）本专利技术的一方面涉及的x射线检查装置具备：x射线照射部，通过在x射线管球中的阴极与阳极之间施加第一电压而产生x射线，并对所输送的物品照射x射线；x射线检测部，检测从x射线照射部照射的x射线；检查部，基于x射线检测部的检测结果生成x射线透射图像，并检查物品；以及控制部，变更施加在阴极与阳极之间的电压，控制部在开始照射通过施加第一电压而产生的x射线之前或者结束照射通过施加第一电压而产生的x射线之后，在阴极与阳极之间施加比所述第一电压高的第二电压。>

4、关于当在低电压的条件下持续使用x射线检查装置时，会产生由所获取的x射线透射图像的一部分中未适当地放射x射线而引起的不良情况，本申请专利技术人认为原因可能在于，如果施加在阴极与阳极之间的电压较低，则从阴极向阳极拉拽电子的力较弱，未碰到靶材的剩余电子会滞留在x射线管球内。因此，认为如果在阴极与阳极之间施加高电压，则这些剩余电子会撞击靶材而被从x射线管球内赶出，并从x射线管球适当地放射x射线。因此，控制部在开始照射通过施加第一电压而产生的x射线之前或者结束照射通过施加第一电压而产生的x射线之后，在阴极与阳极之间施加比第一电压高的第二电压。由此，在x射线管球内产生的异常放电受到抑制，即使当在低电压的条件下持续执行检查的情况下，也能够抑制检查处理能力下降。

5、（2）在上述（1）所述的x射线检查装置中，也可以是，第一电压的范围为15kv～50kv，第二电压的范围为60kv～150kv。在该构成中，即使当在15kv～50kv的范围的低电压的条件下持续使用x射线检查装置的情况下，通过定期施加60kv～150kv的范围的高电压，也能够抑制产生由所获取的x射线透射图像的一部分中未适当地放射x射线而引起的不良情况。

6、（3）在上述（1）或（2）所述的x射线检查装置中，也可以是，第二电压为第一电压的两倍以上。在该构成中，通过定期施加第一电压的两倍以上的第二电压，能够抑制产生由所获取的x射线透射图像的一部分中未适当地放射x射线而引起的不良情况。

7、（4）在上述（1）～（3）中的任一项所述的x射线检查装置中，也可以是，控制部基于以开始使用x射线管球时或上一次施加第二电压的时为起点时的、在x射线照射部中产生的异常放电的次数以及x射线照射部中x射线的照射时间中的至少一方，决定第二电压的强度和施加时间中的至少一方。在该构成中，能够适当地排除x射线管球内的剩余电子。

8、（5）在上述（1）～（4）中的任一项所述的x射线检查装置中，也可以是，控制部存储以开始使用x射线管球时或者上一次施加第二电压时为起点时的、在x射线照射部中产生的异常放电的次数，并基于异常放电的次数决定有无施加第二电压。施加与获取x射线透射图像无关的第二电压的时间会侵蚀能够在检查中利用的时间，并引发检查处理能力下降。在该构成中，因为要根据需要施加第二电压，所以能够将检查处理能力下降限制为最小限度。

9、（6）在上述（1）～（5）中的任一项所述的x射线检查装置中，也可以是，控制部存储以开始使用x射线管球时或者上一次施加第二电压时为起点时的、x射线照射部中x射线的照射时间，并基于照射时间决定有无施加第二电压。施加与获取x射线透射图像无关的第二电压的时间会侵蚀能够在检查中利用的时间，并引发检查处理能力下降。在该构成中，因为要根据需要施加第二电压，所以能够将检查处理能力下降限制为最小限度。

10、（7）在上述（1）～（6）中任一项所述的x射线检查装置中，也可以是，控制部在电源接通时施加第二电压。在该构成中，因为定期适当地排除x射线管球内的剩余电子，所以即使当在低电压的条件下持续执行检查的情况下，也能够抑制检查处理能力下降。

11、根据本专利技术的一方面，即使在低电压的条件下持续执行检查的情况下，也能够抑制检查处理能力下降。

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【技术保护点】

1.一种X射线检查装置，具备：

2.根据权利要求1所述的X射线检查装置，其中，

3.根据权利要求1或2所述的X射线检查装置，其中，

4.根据权利要求1或2所述的X射线检查装置，其中，

5.根据权利要求1或2所述的X射线检查装置，其中，

6.根据权利要求1或2所述的X射线检查装置，其中，

7.根据权利要求1或2所述的X射线检查装置，其中，

【技术特征摘要】

1.一种x射线检查装置，具备：

2.根据权利要求1所述的x射线检查装置，其中，

3.根据权利要求1或2所述的x射线检查装置，其中，

4.根据权利要求1或2所述的x射线检查...

【专利技术属性】
技术研发人员：万木太，
申请(专利权)人：株式会社石田，
类型：发明
国别省市：