本发明专利技术涉及探头性能校准领域，尤其涉及一种用于校准脉冲场探头性能的装置及方法，旨在解决校准过程中脉冲场强幅度的不稳定，从而影响脉冲场探头的校准结果的问题。本发明专利技术包括脉冲源、金属地板和单锥体，将待校准探头放置在金属地板和单锥体之间形成的时域电磁脉冲辐射场第一预设位置上，所述待校准探头与电压监测装置连接，所述时域电磁脉冲辐射场中第二预设位置上还放置有参考探头，所述参考探头与电压监测装置连接。本发明专利技术能够显著减少因脉冲源输出不稳定而引起的误差，不仅提高了校准过程中的精度和可靠性，还简化了校准流程。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及探头性能校准领域，尤其涉及一种用于校准脉冲场探头性能的装置及方法。
技术介绍
1、脉冲场探头用于对时域电磁脉冲场信号进行测试，为了确保测试结果的准确性和可靠性，脉冲场探头的性能需要校准。现有的校准装置采用单锥加金属地板结构装置，是一种变形的同轴传输线结构，校准系统主要由电磁脉冲源、金属地板、单锥结构体等部分组成，其中单锥结构体与地板材质均为金属。系统工作时，电磁脉冲源通过输入端口发射脉冲信号注入单锥结构，在单锥结构与金属地板之间产生时域电磁脉冲辐射场，将电磁脉冲场探头位于辐射场内场点位置处，实现脉冲场探头的时域校准。
2、在脉冲场探头校准过程中，电磁脉冲源产生的时域电磁脉冲信号通过单锥结构的馈电端口进入单锥结构后，在单锥结构与金属地板之间产生电磁脉冲场信号。电磁脉冲源的输出依赖于设备内部器件的放电过程，每次放电过程的差异会导致脉冲源输出幅度的不稳定，进而导致校准过程中脉冲场强幅度的不稳定，从而影响脉冲场探头的校准结果。
3、因此，需要提供一种用于校准脉冲场探头性能的装置及方法。
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【技术保护点】
1.一种用于校准脉冲场探头性能的装置，包括脉冲源(1)、金属地板(2)和单锥体(3)，将待校准探头(4)放置在金属地板(2)和单锥体(3)之间形成的时域电磁脉冲辐射场第一预设位置上，所述待校准探头(4)与电压监测装置(5)连接，其特征在于，所述时域电磁脉冲辐射场中第二预设位置上还放置有参考探头(6)，所述参考探头(6)与电压监测装置(5)连接。
2.根据权利要求1所述的一种用于校准脉冲场探头性能的装置，其特征在于，所述第二预设位置，其获取方法为：
3.根据权利要求1所述的一种用于校准脉冲场探头性能的装置，其特征在于，所述电压监测装置(5)上设置有两个信号接收通道，...
【技术特征摘要】
1.一种用于校准脉冲场探头性能的装置，包括脉冲源(1)、金属地板(2)和单锥体(3)，将待校准探头(4)放置在金属地板(2)和单锥体(3)之间形成的时域电磁脉冲辐射场第一预设位置上，所述待校准探头(4)与电压监测装置(5)连接，其特征在于，所述时域电磁脉冲辐射场中第二预设位置上还放置有参考探头(6)，所述参考探头(6)与电压监测装置(5)连接。
2.根据权利要求1所述的一种用于校准脉冲场探头性能的装置，其特征在于，所述第二预设位置，其获取方法为：
3.根据权利要求1所述的一种用于校准脉冲场探头性能的装置，其特征在于，所述电压监测装置(5)上设置有两个信号接收通道，其中一个与所述待校准探头(4)连接，另一个与所述参考探头(6)连接。
4.根据权利要求1所述的一种用于校准脉冲场探头性能的装置，其特征在于，所述参考探头(6)为已知参数的无源结构参考探头，所述已知参数...
【专利技术属性】
技术研发人员：康宁，赵鹏，崔腾林，黄承祖，彭博，穆晨晨，成永杰，靳刚，
申请(专利权)人：北京无线电计量测试研究所，
类型：发明
国别省市：
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