一种FPGA单粒子翻转检测系统及方法技术方案

本申请公开了一种FPGA单粒子翻转检测系统及方法，涉及FPGA测试领域，该系统包括：上位机、测试底板和测试子板；测试子板包括待测FPGA；测试底板将上位机发送的原始码流文件配置到待测FPGA上，并逐次增加相同的注量对待测FPGA进行多个测试周期的单粒子辐照的试验，回读每次测试周期的回读码流文件；上位机将当前次测试周期的回读码流文件与上次测试周期的回读码流文件进行比对，确定当前次测试周期中单粒子翻转的发生位置，并对每个发生位置的单粒子翻转数进行累加，得到当前测试周期的总注量下的总单粒子翻转数。本发明专利技术解决了无法检测单粒子翻转发生位置以及无法检测同一个电路单元单粒子翻转多次情况的问题。

【技术实现步骤摘要】

本申请涉及现场可编程门阵列(fieldprogrammable gatearray，fpga)测试领域，特别是涉及一种fpga单粒子翻转检测系统及方法。

技术介绍

1、随着集成电路工艺的发展，fpga在航天领域的应用对可靠性提出了更高的要求。因此，可靠性逐渐成为fpga设计时和性能同等需要考虑的重要问题。特别是在太空环境中，fpga很容易受到单粒子效应的影响，使fpga中逻辑单元的内容发生翻转与锁定，导致fpga发生故障。在设计容错fpga之前，需要进行深入的单粒子效应敏感性分析，尤其是fpga在出现单粒子效应时的行为特性。单粒子翻转的检测是fpga可靠性评估的重要技术，因此单粒子翻转的检测工具的研究和设计具有重要意义。

2、相关的单粒子翻转检测方法是从fpga回读配置文件并与原始配置文件比对，并通过串口将错误数传输到上位机并进行分析。该方式存在的缺点主要表现在：在单粒子翻转测试中只能获取翻转数量，无法得知具体发生翻转的位置，难以针对性地对fpga进行单粒子加固；同时，每个电路单元的单粒子翻转最多只能记录1次，无法记录同一电路单元翻转2次以上的本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种FPGA单粒子翻转检测系统，其特征在于，所述FPGA单粒子翻转检测系统包括：上位机、测试底板和测试子板；所述测试子板包括：待测FPGA；所述上位机与所述测试底板连接；所述测试底板与所述待测FPGA连接；

2.根据权利要求1所述的FPGA单粒子翻转检测系统，其特征在于，对于在单粒子翻转试验下，回读每次测试周期所述待测FPGA的码流文件，得到每次测试周期的回读码流文件方面，所述测试底板具体用于：

3.根据权利要求2所述的FPGA单粒子翻转检测系统，其特征在于，所述测试底板还用于：

4.根据权利要求1所述的FPGA单粒子翻转检测系统，其特征在于，所述...

【技术特征摘要】

1.一种fpga单粒子翻转检测系统，其特征在于，所述fpga单粒子翻转检测系统包括：上位机、测试底板和测试子板；所述测试子板包括：待测fpga；所述上位机与所述测试底板连接；所述测试底板与所述待测fpga连接；

2.根据权利要求1所述的fpga单粒子翻转检测系统，其特征在于，对于在单粒子翻转试验下，回读每次测试周期所述待测fpga的码流文件，得到每次测试周期的回读码流文件方面，所述测试底板具体用于：

3.根据权利要求2所述的fpga单粒子翻转检测系统，其特征在于，所述测试底板还用于：

4.根据权利要求1所述的fpga单粒子翻转检测系统，其特征在于，所述测试底板包括：处理fpga和存储器；所述处理fpga分别与所述上位机、所述存储器以及所述待测fpga连接；

5.根据权利要求4所述的fpga单粒子翻转检测系统，其特征在于，所述处理fpga...

【专利技术属性】
技术研发人员：沈木深，孙瑞廷，陈雷，周巍，孙华波，张帆，刘怀锋，刘映光，卢江天，
申请(专利权)人：西北工业大学，
类型：发明
国别省市：