【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及液晶显示屏缺陷检测，特别是一种液晶显示屏缺陷检测方法。
技术介绍
1、液晶显示屏制造过程中，缺陷检测极为重要，随着电子设备向高分辨率、大屏幕、超薄化发展，屏幕制造的工艺精度不断提升，任何微小的缺陷都可能成为影响整批产品合格率的关键因素。
2、在tftlcd显示屏的生产过程中，玻璃基板的缺陷检测多采用反射式光学方法，即利用高分辨率工业相机和特定照明系统拍摄屏幕表面，并通过图像处理算法识别缺陷特征，而随着玻璃基板向超薄化和高透光率方向发展，其光学特性使得检测过程中光线在玻璃内部多次反射，进而在检测图像中产生“虚像”或寄生条纹，导致真实缺陷信息被干扰或误判。
3、针对这一问题，部分传统方法采用多角度照明，通过不同方向的光线照射玻璃表面，并在多个角度下拍摄图像，再利用算法合成一张高置信度的缺陷图像，但由于不同角度的光线仍可能在玻璃内部发生复杂的折射和反射，导致寄生影像难以完全消除；此外，偏振片可以利用偏振光的选择透射特性削弱部分反射光，但在高曲率玻璃检测中，由于光的多次散射和折射作用，偏振片的滤光效果会受到...
【技术保护点】
1.一种液晶显示屏缺陷检测方法，其特征在于：包括，
2.如权利要求1所述的一种液晶显示屏缺陷检测方法，其特征在于：
3.如权利要求2所述的一种液晶显示屏缺陷检测方法，其特征在于：步骤S2的图像采集过程采用CMOS传感器和自适应曝光控制单元，其中自适应曝光控制单元根据玻璃基板的透光率和表面反射特性调整曝光参数。
4.如权利要求3所述的一种液晶显示屏缺陷检测方法，其特征在于：所述适应曝光控制单元根据玻璃基板的透光率和表面反射特性调整曝光参数的步骤为，
5.如权利要求4所述的一种液晶显示屏缺陷检测方法，其特征在于：
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