一种DDR5内存芯片自动化筛选方法技术

技术编号:44974798 阅读:24 留言:0更新日期:2025-04-12 01:50
本发明专利技术涉及半导体筛选技术领域,公开了一种DDR5内存芯片自动化筛选方法,包括以下步骤:S1、数据采集:通过自动化测试平台采集每批次DDR5内存芯片的频率、电压、时序和功耗的测试数据;S2、芯片特性建模:根据采集的测试数据建立每批次芯片的特性模型;S3、多目标优化:根据测试数据构建多个目标函数,对频率误差、电压误差、时序误差和功耗进行多目标优化,得到Pareto最优解;S4、参数自动调整。本发明专利技术通过多目标优化、非线性建模、贝叶斯推理和模糊控制,实现了芯片筛选过程的精确化和自动化,显著提高了筛选精度和效率,确保芯片在高负载和特殊应用环境下的性能一致性和稳定性。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及半导体筛选,具体为一种ddr5内存芯片自动化筛选方法。


技术介绍

1、随着科技的不断发展,内存芯片在各类电子设备中的应用日益广泛,特别是在高性能计算和数据处理领域。ddr5内存芯片作为当前内存技术的重要发展方向,广泛应用于计算机、服务器等高性能设备中。由于ddr5内存芯片在频率、功耗、时序等方面对性能的要求越来越高,因此对芯片筛选的精确度也提出了更高的要求。

2、现有技术中,芯片筛选的方法大多采用标准的测试参数,主要通过检测芯片的功耗、频率、时序等性能指标,来评估其是否满足基本的工作要求。通过自动化测试设备,芯片的性能参数可以较为高效地进行初步筛选。现有技术中,这种基于单一指标或少量指标的筛选方法具有一定的优势:首先,它操作简便,能够快速筛查大量芯片,且能有效发现性能较差的芯片,避免不合格芯片进入市场;其次,现有的自动化测试设备可以显著减少人工操作,提升生产效率;最后,芯片筛选过程中有些方法能够确保芯片的频率、电压等参数在一定范围内稳定运行,确保性能的基本合格。

3、有技术中大多数筛选方法依赖于人工设定的标准参数,不能本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种DDR5内存芯片自动化筛选方法,其特征在于,包括以下步骤:

2.根据权利要求1所述的一种DDR5内存芯片自动化筛选方法,其特征在于,所述数据采集包括:

3.根据权利要求1所述的一种DDR5内存芯片自动化筛选方法,其特征在于,所述芯片特性建模包括:

4.根据权利要求1所述的一种DDR5内存芯片自动化筛选方法,其特征在于,所述多目标优化包括:

5.根据权利要求1所述的一种DDR5内存芯片自动化筛选方法,其特征在于,所述参数自动调整包括:

6.根据权利要求1所述的一种DDR5内存芯片自动化筛选方法,其特征在于,所述非线性建模与...

【技术特征摘要】

1.一种ddr5内存芯片自动化筛选方法,其特征在于,包括以下步骤:

2.根据权利要求1所述的一种ddr5内存芯片自动化筛选方法,其特征在于,所述数据采集包括:

3.根据权利要求1所述的一种ddr5内存芯片自动化筛选方法,其特征在于,所述芯片特性建模包括:

4.根据权利要求1所述的一种ddr5内存芯片自动化筛选方法,其特征在于,所述多目标优化包括:

5.根据权利要求1所述的一种ddr5内存芯片自动化筛选方法,其特征在于,所述参数自动调整包括:

6.根据权利要求1所述的一种ddr5内存芯片自动化筛选方法,其特征在于,所述非线性建模与贝叶斯推...

【专利技术属性】
技术研发人员:王择珑吴伟波
申请(专利权)人:深圳玖合精工科技有限公司
类型:发明
国别省市:

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